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光学材料测试方法及所用光学分析仪器
| 专利名称： | 光学材料测试方法及所用光学分析仪器 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学材料测试方法及所用光学分析仪器，该方法光学材料测试的方法，包括以下步骤：步骤S100：向所述光学样品加载外场；步骤S200：激光照射所述光学样品，获取所述光学样品出光面的光学信息；步骤S300：调节所述外场，按光学检测方法对所述光学信息进行分析，得到所述光学晶体的双折射点和/或折射率随所述外场的变化，分析所述变化得到各所述外场对应的所述光学样品的相变或畴结构变化。可实现通过测量光学样品的折射率参数和二阶非线性信号来研究光学材料中的相变或者畴结构变化。本发明的另一方面还提供了一种该方法所用分析仪器。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 发明人： | 黄凌雄;张戈;陈瑞平;李丙轩;廖文斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810460434.8 |
| 公开号： | CN108593563A |
| 代理机构： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 |
| 代理人： | 李花 |
| 分类号： | G01N21/23(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I;G01N21/17(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/23;G01N21/41;G01N21/47;G01N21/17 |
| 申请人地址： | 350002 福建省福州市鼓楼区杨桥西路155号 |
| 主权项： | 1.一种光学材料测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S100：向所述光学样品加载外场；步骤S200：激光照射所述光学样品，获取所述光学样品出光面的光学信息；步骤S300：调节所述外场，按光学检测方法对所述光学信息进行分析，得到所述光学晶体的双折射点和/或折射率随所述外场的变化，分析所述变化得到各所述外场对应的所述光学样品的相变或畴结构变化；所述外场为温度场和/或电场。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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