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原文传递一种光学材料性能检测装置

专利名称：	一种光学材料性能检测装置
摘要：	本发明公开了一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在样品台的上方，用于采集待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。本发明用于光学材料的二阶非线性光学性能分析。
专利类型：	发明专利
申请人：	中国科学院福建物质结构研究所
发明人：	黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T18:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T08:00:00+0805
申请号：	CN201911312386.9
公开号：	CN111122397A
代理机构：	北京元周律知识产权代理有限公司
代理人：	校丽丽
分类号：	G01N15/02;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02
申请人地址：	350002 福建省福州市鼓楼区杨桥西路155号
主权项：	1.一种光学材料性能检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在所述样品台的上方，用于采集所述待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据所述待测区域的图像获取所述待测区域中待测样品的粒度信息。 2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述图像采集模块位于所述待测区域的正上方。 3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括照明光源，所述照明光源用于照射所述待测样品，以在所述待测样品上形成光斑，所述光斑为所述待测区域。 4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括设置在所述照明光源出射光路上的第一光学组件，所述第一光学组件用于对所述照明光源出射的光线进行整形。 5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括设置在所述第一光学组件出射光路上的光阑，所述光阑用于调节从所述第一光学组件出射的光束大小。 6.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，所述图像采集模块包括成像镜头和成像探测器；所述成像镜头用于提供不同的成像放大倍率；所述成像探测器用于采集所述待测区域的图像。 7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括设置在所述待测样品与所述图像采集模块之间的第二光学组件；所述第二光学组件用于调节射向所述图像采集模块的光线强度。 8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：激光光源，用于照射所述待测区域；光学探测器，用于接收激光光源照射所述待测区域后，反射或透射的光线。 9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：设置在所述照明光源出射光路上的合束镜；所述合束镜用于将所述激光光源出射的光线与所述照明光源出射的光线合为同轴光线。 10.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：设置在所述光学探测器入射光路上的第三光学组件，所述第三光学组件用于对激光光源照射所述待测区域后，反射或透射的光线进行整形；设置在所述激光光源出射光路上的第四光学组件，所述第四光学组件用于对所述激光光源出射的光线进行整形。
所属类别：	发明专利