原文传递
光学材料用光学分析仪器及测试方法
| 专利名称： | 光学材料用光学分析仪器及测试方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学材料用光学分析仪器及测试方法，该分析仪器，包括：激光光源、样品平台和主探测器，光学样品设置于样品平台上，激光光源与光学样品的入光面光路连接；主探测器与光学样品的出光面光路连接，样品平台包括加载装置，加载装置向光学样品加载至少一种外场。可实现通过测量光学样品的折射率参数和二阶非线性信号来研究光学材料中的相变或者畴结构变化。本发明的另一方面还提供了一种该分析仪器的测试方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 发明人： | 黄凌雄;张戈;陈瑞平;李丙轩;廖文斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810460370.1 |
| 公开号： | CN108918412A |
| 代理机构： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 |
| 代理人： | 李花 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/03(2006.01)I;G01N21/23(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/03;G01N21/23 |
| 申请人地址： | 350002 福建省福州市鼓楼区杨桥西路155号 |
| 主权项： | 1.一种光学材料用光学分析仪器，其特征在于，包括：激光光源、样品平台和主探测器，光学样品设置于所述样品平台上，所述激光光源与所述光学样品的入光面光路连接；所述主探测器与所述光学样品的出光面光路连接，所述样品平台包括加载装置，所述加载装置向所述光学样品加载至少一种外场。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
