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V棱镜折光仪及测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法
| 专利名称： | V棱镜折光仪及测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法 |
| 摘要： | 本发明属于光学材料测试技术领域，具体公开了一种V棱镜折光仪及测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的方法，旨在解决现有的V棱镜折光仪难以测试光学材料对波长852.1nm光的折射率的问题。该V棱镜折光仪所具有的平行光管物镜和望远镜物镜，能够使得光学材料对波长852.1nm光的折射率进行测试时波长为852.1nm的不可见光平行光管发出保持平行，并采用了可见光及近红外兼容的CCD对平行光管的分划板像进行接收，因此保证接收到的平行光管的分化板像清晰，进而准确测出光束从V棱镜最后一面出射时的偏折角，从而计算出所测光学材料对波长为852.1nm的不可见光的折射率，测试结果准确，且效率较高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 发明人： | 吴志强;吴德林;周佺佺;俞露 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811131998.3 |
| 公开号： | CN109142276A |
| 代理机构： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 |
| 代理人： | 敬川 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 610100 四川省成都市龙泉驿区成龙大道三段359号 |
| 主权项： | 1.V棱镜折光仪，包括平行光管物镜和望远镜物镜，其特征在于：还包括可见光及近红外兼容的CCD；所述平行光管物镜和望远镜物镜组成的物镜系统在测试波长为706.5nm的可见光及波长为852.1nm的不可见光时，能够满足光学材料折射率测试对光的平行性要求；所述CCD用于接收平行光管的分划板像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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