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基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法
| 专利名称： | 基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法，包括以下步骤：1)采用折射率V棱镜测试的计算公式，通过对折射率和折射角关系的微分运算，求出折射率组批范围△n，对应折射角度变化△θ；2)求出折射角度变化△θ在平行光管焦面上的位移△y；3)根据折射率不同的组批分档和与之对应的△y，在分划板上分档刻线，将折射率的组批分档转换成分划板角度刻线分档；4)进行分划板角度刻线分档测试，从而实现折射率组批分档测试。本发明根据折射率组批范围要求和平行光管焦距参数计算分划板上角度间距，并刻线分档，刻线条数根据折射率组批档数确定，从而实现折射率组批高精度快速测试，使折射率组批变得快速、准确和直观。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 发明人： | 吴德林;吴志强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810523419.3 |
| 公开号： | CN108844920A |
| 代理机构： | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 |
| 代理人： | 蒲敏 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/41 |
| 申请人地址： | 610100 四川省成都市龙泉驿区成龙大道三段359号 |
| 主权项： | 1.基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1)采用折射率V棱镜测试的计算公式，通过对折射率和折射角关系的微分运算，求出折射率组批范围△n对应折射角度变化△θ；2)求出折射角度变化△θ在平行光管焦面上的位移△y；3)根据折射率不同的组批分档和与之对应的△y，在分划板上分档刻线，将折射率的组批分档转换成分划板角度刻线分档；4)进行分划板角度刻线分档测试，从而实现折射率组批分档测试。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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