原文传递
一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法
| 专利名称： | 一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有折射率测量方法难以精确测量高折射率或微小尺寸的光学材料的折射率的问题。所述装置包括光源模块、透明平板、成像模块和测量模块；光源模块用于提供预设波长的单色光；透明平板上设置有第一成像参考标记；成像模块用于在测量待测样品之前和测量待测样品时，分别对第一成像参考标记进行光学成像；将测量待测样品之前的成像模块的成像位置记为零点位置；将测量待测样品时的成像模块的成像位置记为终点位置；测量模块用于根据成像模块从零点位置移动到终点位置的位移量，以及待测样品的厚度测量待测样品的折射率。本发明用于测量光学材料的折射率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 发明人： | 黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-16T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910873210.4 |
| 公开号： | CN110530821A |
| 代理机构： | 北京元周律知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 校丽丽;丛森 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 350002 福建省福州市鼓楼区杨桥西路155号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
