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原文传递一种岩石薄片分析目标定位装置

专利名称：	一种岩石薄片分析目标定位装置
摘要：	本实用新型涉及一种岩石薄片分析目标定位装置，属于岩石样品原位微区分析技术领域，解决了如何在激光剥蚀等离子体质谱(LA‑ICP‑MS)光学镜头下对扫描电子显微镜(SEM)的同一个分析目标进行快速精确定位。该定位装置包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头，把头下端连接有四个定位脚，固定有一个固定脚；固定脚位于四个定位脚中间；定位脚两两相对设置，相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面，两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直；固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具；定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系，固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点。实现了岩石薄片分析目标的快速精确定位。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	国家地质实验测试中心
发明人：	赵鸿;屈文俊;赵九江;李超;周利敏;李欣尉
专利状态：	有效
申请号：	CN201821330569.4
公开号：	CN208568775U
代理机构：	北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386
代理人：	胡时冶;马东伟
分类号：	G01N33/24(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	100037 北京市西城区百万庄大街26号
主权项：	1.一种岩石薄片分析目标定位装置，包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头，其特征在于，所述把头下端连接有四个所述定位脚，固定有一个所述固定脚；所述固定脚位于四个所述定位脚中间；所述定位脚两两相对设置，相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面，两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直，固定脚所在直线为两个垂直平面的交线；所述固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具；所述定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系，所述固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点。
所属类别：	实用新型