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一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统及方法
| 专利名称： | 一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统及方法，系统包括金相显微镜成像平台、载物台、工控机；所述金相显微成像平台由显微放大装置、同轴光源和工业相机组成；载物台包括X、Y轴编码器和光栅尺、电机箱；工控机用于控制电动载物台位移和实现精密缺陷检测算法。方法包括：(1)对金相显微镜平台相机进行标定；(2)定位到模具中第一个摄像模组；(3)采用“Z”字型方法，依次采集微型摄像模组图像；(4)采用图像处理算法检测微型模组镜头精细外观缺陷；(5)反馈镜头存在缺陷的摄像模组与缺陷类型。本发明能够实现摄像模组外观微米级缺陷的精密检测，提高检测精度与自动化程度，为产品质量提供保证。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 华南理工大学 |
| 发明人： | 胡跃明;李璐 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811036012.4 |
| 公开号： | CN109406527A |
| 代理机构： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
| 代理人： | 李斌 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院 |
| 主权项： | 1.一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统，其特征在于，包括金相显微成像平台、载物台以及工控机，所述金相显微成像平台设置在载物台的上方，所述工控机设置在载物台的下方；所述金相显微成像平台包括工业相机、同轴光源、以及显微放大装置，所述工业相机、显微放大装置及同轴光源自上而下分布；首先采用显微放大装置对摄像模组进行光学放大，再运用同轴光源进行打光照明，最后运用工业相机采集一个摄像模组的完整图像；所述载物台包括X轴编码器和设置在X轴编码器上的光栅尺、Y轴编码器和设置在Y轴编码器上的光栅尺、以及电机箱，所述电机箱连接X轴编码器和Y轴编码器；通过控制电机箱内X、Y轴电机转速分别控制载物台X、Y轴的位移，光栅尺对位移进行测量并反馈，实现全闭环；所述工控机，用于控制载物台位移和实现精密缺陷检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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