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一种检测外绝缘设备表面金属污秽的装置及方法
| 专利名称： | 一种检测外绝缘设备表面金属污秽的装置及方法 |
| 摘要： | 本发明涉及外绝缘设备污秽检测领域，特别是涉及一种检测外绝缘设备表面金属污秽的装置及方法。一种检测外绝缘设备表面金属污秽的装置，包括：激光器，用于发射脉冲激光，所述脉冲激光用于激发所述表面金属污秽产生等离子体原子发射光波；光谱仪，用于采集所述等离子体原子发射光波，以生成相应的等离子体原子发射光谱；以及处理器，预存有定标模型；其中，所述处理器用于根据所述等离子体原子发射光谱和所述定标模型，获得所述表面金属污秽的成分和各成分的浓度。本发明可准确且全面的测量外绝缘设备表面污秽中的金属微粒。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳供电局有限公司 |
| 发明人： | 吕启深;李勋;艾精文;张成巍;汪伟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811398892.X |
| 公开号： | CN109406541A |
| 代理机构： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
| 代理人： | 王宁 |
| 分类号： | G01N21/94(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518001 广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼 |
| 主权项： | 1.一种检测外绝缘设备表面金属污秽的装置，其特征在于，包括：激光器，用于发射脉冲激光，所述脉冲激光用于激发所述表面金属污秽产生等离子体原子发射光波；光谱仪，用于采集所述等离子体原子发射光波，以生成相应的等离子体原子发射光谱；以及处理器，预存有定标模型；其中，所述处理器用于根据所述等离子体原子发射光谱和所述定标模型，对所述表面金属污秽的参数进行分析检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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