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原文传递一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法及检测系统

专利名称：	一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法及检测系统
摘要：	本发明公开了一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法及检测系统，包括：获取所需检测直流系统环境中污秽高光谱图像，根据污秽光谱谱线图和污秽光学目视图，创建污秽成分识别模型；获取绝缘子表面高光谱图像，根据污秽成分识别模型分别对绝缘子表面光谱谱线图进行分析和绝缘子表面光学目视图进行分析，得到污秽成分结果和污秽位置分布图；根据绝缘子表面污秽成分结果和绝缘子表面污秽位置分布图，得出绝缘子表面污秽状态可视化分布图像。本申请可以得到最终的污秽状态可视化分布图像，实现非接触式检测和检测结果可视化，并且检测过程简便易操作。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	云南;53
申请人：	云南电网有限责任公司电力科学研究院
发明人：	马御棠;黄然;张血琴;邓琴;张晓青;吴广宁;周仿荣;马仪;彭兆裕;颜冰;刘冲
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201910246851.7
公开号：	CN109799244A
代理机构：	北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	逯长明;许伟群
分类号：	G01N21/94(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
主权项：	1.一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取所需检测直流系统环境中污秽高光谱图像，所述污秽高光谱图像包括污秽光谱谱线图和污秽光学目视图；根据所述污秽光谱谱线图和所述污秽光学目视图，创建污秽成分识别模型；获取绝缘子表面高光谱图像，所述绝缘子表面高光谱图像包括绝缘子表面光谱谱线图和绝缘子表面光学目视图；根据所述污秽成分识别模型对所述绝缘子表面光谱谱线图进行分析，得到绝缘子表面污秽成分结果；根据所述污秽成分识别模型对所述绝缘子表面光学目视图进行分析，得到绝缘子表面污秽位置分布图；根据所述绝缘子表面污秽成分结果和所述绝缘子表面污秽位置分布图，得出绝缘子表面污秽状态可视化分布图像。 2.如权利要求1所述的直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法，其特征在于，所述根据所述污秽光谱谱线图和所述污秽光学目视图，创建污秽成分识别模型包括：根据所述污秽光谱谱线图创建高光谱谱线库；根据所述污秽光学目视图创建图像特征库；利用最小距离分类法根据所述高光谱谱线库和所述图像特征库创建所述污秽成分识别模型。 3.如权利要求2所述的直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法，其特征在于，所述根据所述污秽光谱谱线图创建高光谱谱线库包括：提取所述光谱谱线图中各污秽成分的波谱曲线的特征波长；根据所述特征波长创建高光谱谱线库。 4.如权利要求1所述的直流系统绝缘子表面污秽状态检测方法，其特征在于，所述根据所述污秽光谱谱线图和所述污秽光学目视图，建立污秽成分识别模型之前还包括：对所述污秽光学目视图进行预处理，所述预处理包括：黑白校正、多元散射校正、平滑变换以及去噪处理。 5.一种直流系统绝缘子表面污秽状态检测系统，其特征在于，所述系统包括：污秽高光谱图像获取单元，用于获取所需检测直流系统环境中污秽高光谱图像，所述污秽高光谱图像包括污秽光谱谱线图和污秽光学目视图；污秽成分识别模型创建单元，用于根据所述污秽光谱谱线图和所述污秽光学目视图，创建污秽成分识别模型；绝缘子表面高光谱图像获取单元，用于获取绝缘子表面高光谱图像，所述绝缘子表面高光谱图像包括绝缘子表面光谱谱线图和绝缘子表面光学目视图；第一分析单元，用于根据所述污秽成分识别模型对所述绝缘子表面光谱谱线图进行分析，得到绝缘子表面污秽成分结果；第二分析单元，用于根据所述污秽成分识别模型对所述绝缘子表面光学目视图进行分析，得到绝缘子表面污秽位置分布图；可视化分布图像获取单元，用于根据所述绝缘子表面污秽成分结果和所述绝缘子表面污秽位置分布图，得出绝缘子表面污秽状态可视化分布图像。 6.如权利要求5所述的直流系统绝缘子表面污秽状态检测系统，其特征在于，所述污秽成分识别模型创建单元包括：高光谱谱线库创建模块，用于根据所述污秽光谱谱线图创建高光谱谱线库；图像特征库创建模块，用于根据所述污秽光学目视图创建图像特征库；污秽成分识别模型创建模块，用于利用最小距离分类法根据所述高光谱谱线库和所述图像特征库创建所述污秽成分识别模型。 7.如权利要求6所述的直流系统绝缘子表面污秽状态检测系统，其特征在于，所述高光谱谱线库创建模块包括：提取子模块，用于提取所述光谱谱线图中各污秽成分的波谱曲线的特征波长；高光谱谱线库创建子模块，用于根据所述特征波长创建高光谱谱线库。 8.如权利要求5所述的直流系统绝缘子表面污秽状态检测系统，其特征在于，所述系统还包括：预处理单元，所述预处理单元用于对所述污秽光学目视图进行预处理，所述预处理包括：黑白校正、多元散射校正、平滑变换以及去噪处理。
所属类别：	发明专利