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原文传递光热干涉测量装置和方法

专利名称：	光热干涉测量装置和方法
摘要：	一种光热干涉测量装置(1)，用于检测样品中的分子，特别是用于检测痕量气体种类，其包括：‑法布里‑珀罗干涉仪(4)，其具有第一反射镜(5)，第二反射镜(6)，以及在所述第一反射镜(5)和所述第二反射镜(6)之间延伸的用于容纳样品的第一腔(7)，‑探测激光器装置，其具有用于提供第一探测激光束(8a)和第二探测激光束(8b)的至少一个探测激光器(3)，‑激发激光器(2)，用于使激发激光束(2a)穿过所述法布里‑珀罗干涉仪(4)的所述第一腔(7)以便激发样品中的分子，‑所述法布里‑珀罗干涉仪(4)包括第三反射镜(39)，第四反射镜(40)，以及在所述第三反射镜(39)和所述第四反射镜(40)之间延伸的用于容纳样品的第二腔(41)，‑所述法布里‑珀罗干涉仪(4)的所述第一腔(7)和所述第二腔(41)布置成使得在所述第一腔(7)中所述第一探测激光束(8a)与所述激发激光束(2a)相交并且在所述第二腔中所述第二探测激光束(8b)不与所述激发激光束(2a)相交，‑光检测器单元(9)，其包括用于探测传输的第一探测激光束(8a)的第一光检测器(44)和用于探测传输的第二探测激光束(8b)的第二光检测器(45)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	奥地利;AT
申请人：	维也纳技术大学
发明人：	约翰内斯·保罗·瓦茨瓦韦克;伯恩哈德·伦德尔
专利状态：	有效
申请号：	CN201780037113.0
公开号：	CN109416318A
代理机构：	北京金思港知识产权代理有限公司 11349
代理人：	邵毓琴
分类号：	G01N21/17(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	奥地利维也纳
主权项：	1.一种光热干涉测量装置(1)，用于检测样品中的分子，特别是用于检测痕量气体种类，所述光热干涉测量装置(1)包括：‑法布里‑珀罗干涉仪(4)，所述法布里‑珀罗干涉仪(4)具有第一反射镜(5)、第二反射镜(6)、以及在所述第一反射镜(5)和所述第二反射镜(6)之间延伸的用于容纳样品的第一腔(7)，‑探测激光器装置，所述探测激光器装置具有用于提供第一探测激光束(8a)和第二探测激光束(8b)的至少一个探测激光器(3)，‑激发激光器(2)，所述激发激光器(2)用于使激发激光束(2a)穿过所述法布里‑珀罗干涉仪(4)的所述第一腔(7)以便激发样品中的分子，‑所述法布里‑珀罗干涉仪(4)包括第三反射镜(39)、第四反射镜(40)、以及在所述第三反射镜(39)和所述第四反射镜(40)之间延伸的用于容纳样品的第二腔(41)，‑所述法布里‑珀罗干涉仪(4)的所述第一腔(7)和所述第二腔(41)布置成使得在所述第一腔(7)中所述第一探测激光束(8a)与所述激发激光束(2a)相交并且在所述第二腔中所述第二探测激光束(8b)不与所述激发激光束(2a)相交，‑光检测器单元(9)，所述光检测器单元(9)包括用于探测传输的第一探测激光束(8a)的第一光检测器(44)和用于探测传输的第二探测激光束(8b)的第二光检测器(45)。
所属类别：	发明专利