专利名称: |
一种晶体测试装置 |
摘要: |
本实用新型涉及晶体技术领域,且公开了一种晶体测试装置,包括测试箱,所述测试箱的顶部设置有箱盖,所述测试箱的右侧固定安装有铰链,所述铰链的左侧与箱盖铰接,所述测试箱的左侧箱盖的左侧均固定连接有锁紧块,所述锁紧块的顶部设置有固定螺钉,所述固定螺钉的底端贯穿并延伸至锁紧块的底部,所述锁紧块的底部设置有固定螺母。该晶体测试装置,通过设置操作杆,打开测试灯,通过观察窗可观察晶体,且通过设置滚球和滚槽,可操作操作杆来控制晶体,通过控制开关,可将放在观察板上的晶体可移动到一个适当的高度,该装置整体结构简单紧凑,能大幅度提高测试的精确性,实用性强,方便了使用者使用。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
福建;35 |
申请人: |
福州弘丰光电科技有限公司 |
发明人: |
陈振先 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201821317954.5 |
公开号: |
CN208580023U |
分类号: |
G01N21/03(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
350000 福建省福州市闽侯县上街镇乌龙江南大道30号清华紫光科技园-海峡科技研发区D座19层105室 |
主权项: |
1.一种晶体测试装置,包括测试箱(1),其特征在于:所述测试箱(1)的顶部设置有箱盖(2),所述测试箱(1)的右侧固定安装有铰链(3),所述铰链(3)的左侧与箱盖(2)铰接,所述测试箱(1)的左侧箱盖(2)的左侧均固定连接有锁紧块(4),所述锁紧块(4)的顶部设置有固定螺钉(5),所述固定螺钉(5)的底端贯穿并延伸至锁紧块(4)的底部,所述锁紧块(4)的底部设置有固定螺母(6),所述固定螺母(6)的内壁与固定螺钉(5)螺纹连接,所述箱盖(2)的底部固定安装有测试灯(7),所述测试箱(1)的内底壁固定安装有电动推杆(8),所述电动推杆(8)的顶部固定连接有观察板(9),所述测试箱(1)的左侧固定连接有保护箱(10),所述保护箱(10)的内部固定安装有真空装置(11),所述真空装置(11)的右侧连通有进气管(12),所述真空装置(11)的左侧连通有出气管(13),所述进气管(12)的右端贯穿并延伸至测试箱(1)的内部,所述出气管(13)的左端贯穿并延伸至保护箱(10)的外部,所述测试箱(1)的右侧设置有操作固定块(14),所述操作固定块(14)的左侧贯穿并延伸至测试箱(1)的内部,所述操作固定块(14)的内部开设有移动槽(15),所述操作固定块(14)的内部开设有滚槽(16),所述滚槽(16)内部与移动槽(15)相通,所述滚槽(16)的内壁滚动连接有滚球(17),所述滚球(17)的右侧设置有操作杆(18),所述操作杆(18)的左端贯穿并延伸至滚球(17)的外部,所述测试箱(1)的正面固定安装有观察窗(19),所述测试箱(1)的正面固定安装有开关(20)。 |
所属类别: |
实用新型 |