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热膨胀系数测定装置和热膨胀系数测定方法
| 专利名称： | 热膨胀系数测定装置和热膨胀系数测定方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种热膨胀系数测定装置和热膨胀系数测定方法。热膨胀测定装置具备：温度控制装置，其检测被测定物的温度；光波干涉仪，其使用单一波长的光对被测定物的长度尺寸进行测定；实测数据获取部，其依次变更被测定物的温度，获取在各温度下由光波干涉仪测定的被测定物的长度尺寸的实测数据；数据集生成部，其针对各实测数据生成通过将干涉级次设定在任意的范围内所得到的多个验证用数据，从针对各温度的验证用数据中分别选出一个验证用数据作为数据集并生成验证用数据的选择的组合不同的多个数据集；以及判定部，其关于多个数据集分别计算一阶近似函数，使用基于数据集的各验证用数据与一阶近似函数的残差的评价指标值来判定数据集的有效性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社三丰 |
| 发明人： | 横山雄一郎;萩野健 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811012107.2 |
| 公开号： | CN109425634A |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N25/16(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 日本神奈川县 |
| 主权项： | 1.一种热膨胀系数测定装置，其特征在于，具备：温度检测部，其对被测定物的温度进行检测；光波干涉仪，其使用单一波长的光来测定所述被测定物的长度尺寸；实测数据获取部，其依次变更所述被测定物的温度，获取在i＝1～k的各温度Ti下由所述光波干涉仪测定的所述被测定物的长度尺寸的实测数据Li；数据集生成部，其针对各所述实测数据Li生成通过将干涉级次设定在任意的范围内所得到的多个验证用数据Di，从针对i＝1～k的各温度Ti的所述验证用数据Di中分别选出一个所述验证用数据Di来形成数据集，并生成所述验证用数据Di的选择的组合各不相同的多个所述数据集；以及判定部，其关于多个所述数据集分别计算一阶近似函数，使用基于所述数据集的各所述验证用数据Di与所述一阶近似函数的差的评价指标值，来判定所述数据集的有效性，其中，k为大于1的正整数。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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