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一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法
| 专利名称： | 一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法，半球型测试暗室的顶部设有通光孔，通光孔的正上方设有测试光源；半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个光电探测器，所有光电探测器与信号处理系统相连；半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样品通过样品支撑部件安装在四维工作转台上，四维工作转台带动待测样品水平面旋转和垂直面旋转；测试光源的光束经准直后，经通光孔入射至待测样品上；入射光经待测样品散射后，散射光信号被光电探测器接收，光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的双向反射分布函数。本发明可实现2π半球空间范围内样品双向反射分布函数的快速测量，测量精确度高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学;北京空间机电研究所 |
| 发明人： | 代京京;王智勇;刘豫颖;赵思思;张景豪 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811596838.6 |
| 公开号： | CN109470656A |
| 代理机构： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 |
| 代理人： | 孙民兴 |
| 分类号： | G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 1.一种新型双向反射分布函数快速测试系统，其特征在于，包括：半球型测试暗室；所述半球型测试暗室的顶部设有通光孔，所述通光孔的正上方设有测试光源；所述半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个所述光电探测器，所有所述光电探测器与信号处理系统相连；所述半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样品通过样品支撑部件安装在所述四维工作转台上，所述四维工作转台带动所述待测样品水平面旋转和垂直面旋转。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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