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一种新型双向反射分布函数快速测试系统
| 专利名称： | 一种新型双向反射分布函数快速测试系统 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型双向反射分布函数快速测试系统，半球型测试暗室的顶部设有通光孔，通光孔的正上方设有测试光源；半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个光电探测器，所有光电探测器与信号处理系统相连；半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样品通过样品支撑部件安装在四维工作转台上，四维工作转台带动待测样品水平面旋转和垂直面旋转；测试光源的光束经准直后，经通光孔入射至待测样品上；入射光经待测样品散射后，散射光信号被光电探测器接收，光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的双向反射分布函数。本实用新型可实现2π半球空间范围内样品双向反射分布函数的快速测量，测量精确度高。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学 |
| 发明人： | 代京京;王智勇;刘豫颖;赵思思;张景豪 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-10-18T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201822193927.8 |
| 公开号： | CN209513614U |
| 代理机构： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 孙民兴 |
| 分类号： | G01N21/47(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 1.一种新型双向反射分布函数快速测试系统，其特征在于，包括：半球型测试暗室； 所述半球型测试暗室的顶部设有通光孔，所述通光孔的正上方设有测试光源； 所述半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个光电探测器，所有所述光电探测器与信号处理系统相连； 所述半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样品通过样品支撑部件安装在所述四维工作转台上，所述四维工作转台带动所述待测样品水平面旋转和垂直面旋转。 2.如权利要求1所述的新型双向反射分布函数快速测试系统，其特征在于，所述半球型测试暗室安装在底托上构成封闭的半球腔体。 3.如权利要求1所述的新型双向反射分布函数快速测试系统，其特征在于，所述测试光源的光路上设有准直器，所述准直器对光束准直后经所述通光孔入射至所述半球型测试暗室内的待测样品上。 4.如权利要求1所述的新型双向反射分布函数快速测试系统，其特征在于，所述四维工作转台带动所述待测样品水平面360°旋转和垂直面180°俯仰。 5.如权利要求1所述的新型双向反射分布函数快速测试系统，其特征在于，所述信号处理系统包括：前置放大器、锁相位放大器和计算机； 所有所述光电探测器均与所述前置放大器相连，所述前置放大器与所述锁相位放大器相连，所述锁相位放大器与所述计算机相连。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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