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原文传递分子检测的方法

专利名称：	分子检测的方法
摘要：	本发明提供了一种分子检测的方法，包括以下步骤：提供一待测样品，该待测样品的表面分布有待测物分子；提供一分子载体，该分子载体包括一柔性基底，所述柔性基底包括一第一基板以及多个设置于该第一基板表面上的图案化的第一凸起；所述多个图案化的第一凸起与所述第一基板为一体结构；所述图案化的第一凸起包括多个凸条或凸块，从而定义多个第一孔洞；以及一设置于该柔性基底的金属层，所述金属层设置于柔性基底具图案化的第一凸起的表面；将所述金属层远离所述柔性基底的表面贴合于该待测样品的表面，使得所述待测物分子形成于所述金属层的表面；采用检测器对该金属层表面的待测物分子进行检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司
发明人：	王营城;金元浩;李群庆;范守善
专利状态：	有效
申请号：	CN201710807472.1
公开号：	CN109470678A
分类号：	G01N21/65(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
主权项：	1.一种分子检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：提供一待测样品，该待测样品的表面分布有待测物分子；提供一分子载体，该分子载体包括一柔性基底，所述柔性基底包括一第一基板以及多个设置于该第一基板表面上的图案化的第一凸起；所述多个图案化的第一凸起与所述第一基板为一体结构；所述图案化的第一凸起包括多个凸条或凸块，从而定义多个第一孔洞；以及一设置于该柔性基底上的金属层，所述金属层设置于柔性基底具图案化的第一凸起的表面；将所述金属层远离所述柔性基底的表面贴合于该待测样品的表面，使得所述待测物分子形成于所述金属层的表面；以及采用检测器对该金属层表面的待测物分子进行检测。
所属类别：	发明专利