专利名称: |
一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置 |
摘要: |
本实用新型公开了一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置,所述装置包括:光阑设置在聚焦透镜前,用于限制光斑尺寸并对光束进行整形;太赫兹分束器将太赫兹波分为两束,一束光作为信号光,通过成像样品后由第一太赫兹波探测器探测,另一束由第二太赫兹波探测器探测,用于监测太赫兹辐射源的功率波动以此提高信噪比;电控旋转平台固定于第一电控一维平移台上,第一电控一维平移台固定在第二电控一维平移台上,电控旋转平台连接成像样品,使其从上往下垂直浸入液体槽中,液体槽内充满折射率匹配液,使成像样品在液体环境中接受扫描;计算机控制系统通过连续扫描控制程序控制两个电控一维平移台以及电控旋转平台进行连续扫描。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
天津;12 |
申请人: |
天津大学 |
发明人: |
王与烨;陈霖宇;徐德刚;姚建铨 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201820860351.3 |
公开号: |
CN208621514U |
代理机构: |
天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
代理人: |
李林娟 |
分类号: |
G01N21/3581(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
300072 天津市南开区卫津路92号 |
主权项: |
1.一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置,其特征在于,所述装置包括:光阑设置在聚焦透镜前,用于限制光斑尺寸并对光束进行整形;太赫兹分束器将太赫兹波分为两束,一束光作为信号光,通过成像样品后由第一太赫兹波探测器探测,另一束由第二太赫兹波探测器探测,用于监测太赫兹辐射源的功率波动;电控旋转平台固定于第一电控一维平移台上,第一电控一维平移台固定在第二电控一维平移台上,电控旋转平台连接成像样品,使其从上往下垂直浸入液体槽中,液体槽内充满折射率匹配液,使成像样品在液体环境中接受扫描;计算机控制系统控制两个电控一维平移台以及电控旋转平台进行连续扫描,同时实现对第一太赫兹波探测器和第二太赫兹波探测器测量数据的采集并处理,得到太赫兹层析成像图。 |
所属类别: |
实用新型 |