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原文传递 一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置及方法
专利名称: 一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置及方法
摘要: 本发明公开了一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置及方法,包括:基于折射率匹配液的太赫兹波连续扫描成像系统和数据处理算法。折射率匹配液填充于液体槽中,成像时样品浸入液体槽内进行扫描,由于液体槽的两个通光面垂直于聚焦的太赫兹光束,可以避免扫描过程中的光束偏移;数据处理算法用于滤除太赫兹辐射源功率波动导致的噪声以及液体对太赫兹波的吸收,并采用滤波反投影算法重建样品的内部信息。本发明通过引入内置折射率匹配液的液体槽,有效地解决由于样品折射率较高而导致的太赫兹光束折射以及反射问题,其次,通过模拟扫描过程中液体的衰减并对投影数据进行修正,消除液体吸收对成像结果的影响,实现对高折射率样品的太赫兹CT成像。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 天津;12
申请人: 天津大学
发明人: 王与烨;陈霖宇;徐德刚;姚建铨
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810568221.7
公开号: CN108458987A
代理机构: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201
代理人: 李林娟
分类号: G01N21/3581(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3581
申请人地址: 300072 天津市南开区卫津路92号
主权项: 1.一种太赫兹波计算机辅助层析成像装置,其特征在于,所述装置包括:光阑设置在聚焦透镜前,用于限制光斑尺寸并对光束进行整形;太赫兹分束器将太赫兹波分为两束,一束光作为信号光,通过成像样品后由第一太赫兹波探测器探测,另一束由第二太赫兹波探测器探测,用于监测太赫兹辐射源的功率波动以此提高信噪比;电控旋转平台固定于第一电控一维平移台上,第一电控一维平移台固定在第二电控一维平移台上,电控旋转平台连接成像样品,使其从上往下垂直浸入液体槽中,液体槽内充满折射率匹配液,使成像样品在液体环境中接受扫描;计算机控制系统通过连续扫描控制程序控制两个电控一维平移台以及电控旋转平台进行连续扫描,同时实现对第一太赫兹波探测器和第二太赫兹波探测器测量数据的采集,并对测量数据进行处理,得到太赫兹层析成像图。
所属类别: 发明专利
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