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一种用于射线底片黑度动态测量的装置
| 专利名称： | 一种用于射线底片黑度动态测量的装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于射线底片黑度动态测量的装置，涉及工业射线底片黑度测量领域。本发明克服了传统的黑度测量设备主要用于单点测量，测量过程繁琐，不适用于大批量底片黑度值检测的缺陷。本发明基于多传感器采集光照，巧妙结构设计，采用皮带自动无损传片的原理和高性能芯片的信号处理，实现了底片黑度值的多区域、高精度、高速度的动态测量，能够满足工业评片场合要求的大批量底片质量快速评判，从而保证底片后续处理的顺利进行，提高了底片处理效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 陕西西宇无损检测有限公司;西安工业大学 |
| 发明人： | 杨波;袁黎明;贾潇;张宽;闫芬婷;安庆;黄宝洋;王柄凯;许红愿;李小兵 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811188813.2 |
| 公开号： | CN109490199A |
| 代理机构： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 |
| 代理人： | 黄秦芳 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 712100 陕西省西安市杨凌示范区工业园区二路北侧 |
| 主权项： | 1.一种用于射线底片黑度动态测量的装置，其特征在于：所述系统由光照强度采集组件、数据处理组件、送片出片组件组成；所述光照强度采集组件包括从上到下依次水平设置的光照强度传感器组（2）、光阑（1）、遮光底板（11）、强光LED光源组（3）和导轨型散热底座（4），其中光照强度传感器组（2）、光阑（1）和遮光底板（11）构成组件，所述光阑（1）位于光照强度传感器组（2）和遮光底板（11）之间，所述遮光底板（11）的下部设置有送片出片组件，所述强光LED光源组（3）设置于导轨型散热底座（4）上构成组件；所述光照强度传感器组（2）由数个光照强度传感器组成，所述光阑（1）上设置有数个通孔，所述强光LED光源组（3）由数个LED发光源组成；所述光照强度传感器的感光器件中心与光阑通孔中心以及强光LED发光源的中心处于同一条直线。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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