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原文传递 X射线测量装置

专利名称：	X射线测量装置
摘要：	本发明能够在不使用捕捉微弱的X射线的特别结构的情况下检测X射线，使后方散射X射线像成像。本发明的X射线测量装置具备：X射线照射部(10)，其对测量对象(2)照射X射线；传感器(20)，其对与在测量对象(2)上反射的后方散射X射线对应的电信号进行检测；测量部(40)，其参照传感器(20)输出的电信号来测量测量对象(20)；以及重金属板(30)，其使后方散射X射线通过，并形成有使后方散射X射线在传感器(20)上成像的针孔(32)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	夏普株式会社
发明人：	三好寿顕;藤原健;加藤英俊;铃木良一
专利状态：	有效
申请日期：	2018-11-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201811334347.4
公开号：	CN109946329A
代理机构：	深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人：	汪飞亚;习冬梅
分类号：	G01N23/203(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本国大阪府堺市堺区匠町1番地
主权项：	1.一种X射线测量装置，其特征在于，具备： X射线照射部，其对测量对象照射X射线； X射线检测部，其检测与在上述测量对象上反射的后方散射X射线对应的电信号；测量部，其参照由上述X射线检测部检测出的电信号来测量上述测量对象；以及开口部，其使上述后方散射X射线通过，并形成有使上述后方散射X射线在上述X射线检测部上成像的开口。 2.根据权利要求1所述的X射线测量装置，其特征在于，上述X射线检测部具备：保持部，其包含氧化物半导体，并保持与上述后方散射X射线对应的电信号；以及传送部，其包含氧化物半导体，并将保持于上述保持部的上述电信号向上述测量部传送。 3.根据权利要求1所述的X射线测量装置，其特征在于：上述X射线检测部的检测面的中心配置于相对于从上述X射线照射部照射的X射线的中心线的角度为150°至180°的范围内的位置。 4.根据权利要求1所述的X射线测量装置，其特征在于，具备：过滤器，配置于上述后方散射X射线的行进方向的相对于上述开口部的上游侧以及下游侧中的至少一方，使规定的能源量的X射线透射。 5.根据权利要求1所述的X射线测量装置，其特征在于：具备多个上述X射线检测部，具备立体图像生成部，其根据上述多个X射线检测部的检测结果生成立体图像。 6.根据权利要求1所述的X射线测量装置，其特征在于：具备多个上述X射线检测部，具备多个上述开口部，其与上述多个X射线检测部的每一个对应地设置，并分别形成有开口直径不同的开口。 7.根据权利要求1所述的X射线测量装置，其特征在于，具备：透射X射线检测部，其检测透射了上述测量对象的透射X射线。
所属类别：	发明专利