详情

原文传递测量用X射线CT装置

专利名称：	测量用X射线CT装置
摘要：	本发明提供一种测量用X射线CT装置。测量用X射线CT装置在X射线源与X射线检测器之间具备用于搭载测定对象的旋转台以及扫描机构，该测量用X射线CT装置在预先校正X射线源的焦点、X射线检测器和旋转台的旋转中心的几何位置关系的基础上向测定对象照射X射线来进行CT扫描，由此获取投影图像，并通过对该投影图像进行CT重建来生成测定对象的三维像，所述测量用X射线CT装置具备：基准框架，其具有不易受环境变动所影响的材质和构造；以及传感器，其配置于该基准框架，用于在CT扫描中逐次获取X射线源的焦点与X射线检测器的几何位置关系的校正值，其中，所述测量用X射线CT装置将该校正值用作CT重建的参数。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社三丰
发明人：	佐佐木诚治;中泽信行;境久嘉;今正人;浅野秀光
专利状态：	在审
申请日期：	2020-09-04T00:00:00+0800
发布日期：	2021-03-09T00:00:00+0800
申请号：	CN202010920049.4
公开号：	CN112461871A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N23/046;G01B15/00;G;G01;G01N;G01B;G01N23;G01B15;G01N23/046;G01B15/00
申请人地址：	日本神奈川县
所属类别：	发明专利