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测量用X射线CT设备以及批量生产工件测量方法
| 专利名称： | 测量用X射线CT设备以及批量生产工件测量方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种测量用X射线CT设备以及批量生产工件测量方法。在使用被配置为在使被布置在转动台上的工件转动的同时发射X射线、并且重构所述工件的投影图像以生成所述工件的体数据的测量用X摄像CT设备测量批量生产工件时，本发明向预定工件的体数据分配值，并将所述体数据存储为与主数据相同；在与所述预定工件相同的条件下获得批量生产工件的体数据；测量该体数据并且获得所述批量生产工件的X射线CT测量值；以及使用所述主数据来校正所述批量生产工件的X射线CT测量值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社三丰 |
| 发明人： | 浅野秀光;今正人 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-03-12T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-09-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910183519.0 |
| 公开号： | CN110261415A |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N23/046(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 日本神奈川县 |
| 主权项： | 1.一种测量用X射线CT设备，其被配置为在使被布置在转动台上的工件转动的同时发射X射线、并且重构所述工件的投影图像以生成所述工件的体数据，所述测量用X射线CT设备包括： 一个或多个存储器，用于存储： 可执行指令集，以及 作为主数据的预定工件的体数据，其值是提前分配的；以及 处理器，其在执行所述可执行指令集时被配置为用作： 用于在与所述预定工件相同的条件下获得批量生产工件的体数据的系统； 用于测量该体数据并且获得批量生产工件的X射线CT测量值的系统；以及 用于使用所述主数据来校正批量生产工件的X射线CT测量值的校正器。 2.根据权利要求1所述的测量用X射线CT设备，其中，所述预定工件是所述批量生产工件。 3.一种测量用X射线CT设备的批量生产工件测量方法，其中在测量批量生产工件时，所述测量用X射线CT设备在使被布置在转动台上的工件转动的同时发射X射线、并且重构所述工件的投影图像以生成所述工件的体数据，所述批量生产工件测量方法包括： 向预定工件的体数据分配值，并将所述体数据存储为主数据； 在与所述预定工件相同的条件下获得批量生产工件的体数据； 测量该体数据并且获得批量生产工件的X射线CT测量值；以及 使用所述主数据来校正批量生产工件的X射线CT测量值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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