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原文传递 X射线吸收测量系统

专利名称：	X射线吸收测量系统
摘要：	本公开提供一种用X射线吸收测量系统。一种x射线照明系统，包括：x射线源，包括至少一个电子束发射器和至少一个靶，其中靶包括基板以及与基板热接触的多个离散微结构，多个离散微结构包括至少一个第一离散微结构和至少一个第二离散微结构；光具组，被配置为接收来自至少一个靶的沿着一定发散角内的预定轴传播的x射线并且产生x射线束；X射线单色器，被配置为可控地从X射线束选择X射线，选择的X射线具有选定能量和宽度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	斯格瑞公司
发明人：	西尔维娅·贾·云·路易斯;云文兵;雅诺什·科瑞;艾伦·弗朗西斯·里昂
专利状态：	有效
申请日期：	2015-03-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201910779963.9
公开号：	CN110530907A
代理机构：	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：	桑敏
分类号：	G01N23/085(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	美国加利福尼亚州
所属类别：	发明专利