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原文传递 γ射线吸收参数测量装置

专利名称：	γ射线吸收参数测量装置
摘要：	本实用新型提供一种γ射线吸收参数测量装置，包括底座16、设置在底座16上的滑道15、设置在滑道15上的滑块支撑座12、设置在滑块支撑座12上的放射源11、设置在底座16上的支撑架9、设置在支撑架9内顶面上的下部准直器10、设置在支撑架9上的料位体4、设置在料位体4上的上部支架3、设置在上部支架3上的上部准直器2、设置在上部准直器2上的探测器1，在滑道15上设置有水平仪13；所述下部准直器10、放射源11和滑块支撑座12在所述支撑架9内。通过将不同材料放入料位体中，观察显示标尺，探测器测得的数据可用来测量不同材料的γ射线吸收参数。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	黑龙江;23
申请人：	哈尔滨工程大学
发明人：	彭帮保;吕强;田瑞峰;王庆宇;刘辉兰;刘阳;聂晓强
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201820558487.9
公开号：	CN208270457U
分类号：	G01N23/06(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/06
申请人地址：	150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
主权项：	1.一种γ射线吸收参数测量装置，其特征在于，包括底座(16)、设置在底座(16)上的滑道(15)、设置在滑道(15)上的滑块支撑座(12)、设置在滑块支撑座(12)上的放射源(11)、设置在底座(16)上的支撑架(9)、设置在支撑架(9)内顶面上的下部准直器(10)、设置在支撑架(9)上的料位体(4)、设置在料位体(4)上的上部支架(3)、设置在上部支架(3)上的上部准直器(2)、设置在上部准直器(2)上的探测器(1)，在滑道(15)上设置有水平仪(13)；所述下部准直器(10)、放射源(11)和滑块支撑座(12)在所述支撑架(9)内。
所属类别：	实用新型