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一种X射线吸收谱测量装置及测量方法
| 专利名称： | 一种X射线吸收谱测量装置及测量方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种新型的X射线吸收谱测量装置，通过集成荧光探测装置和样品安放装置来实现，在实践中与X射线源、电流放大装置和处理器共同联用。荧光探测装置的第一探测模块为光电二极管(PIN‑diode)。在被测样品与荧光探测装置之间安置可过滤电子的过滤膜。测量装置内集成样品安放装置，采用掠入射几何，与X射线的夹角范围为1‑4°。通过大面积探测器、过滤膜、掠入射几何的结合，可实现材料X射线吸收谱的有效检测，相对于传统的探测器来说，探测灵敏度和探测效率都有大幅提升。本发明还提供一种X射线吸收谱测量方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖南;43 |
| 申请人： | 长沙新材料产业研究院有限公司 |
| 发明人： | 刘涛;唐跃强;黄翀 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201711389552.6 |
| 公开号： | CN107941836A |
| 代理机构： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 |
| 代理人： | 郭立中 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 410205 湖南省长沙市岳麓区麓谷企业广场B8栋7楼 |
| 主权项： | 一种X射线吸收谱测量装置，其特征在于：包括用于放置被测样品(20)的样品安放装置(8)，所述被测样品(20)接收X射线并发出荧光信号；还包括用于探测所述荧光信号的荧光探测装置(6)以及与荧光探测装置(6)的输出电连接的处理器(10)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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