专利名称: |
一种X射线吸收谱测量装置及测量方法 |
摘要: |
本发明提供一种新型的X射线吸收谱测量装置,通过集成荧光探测装置和样品安放装置来实现,在实践中与X射线源、电流放大装置和处理器共同联用。荧光探测装置的第一探测模块为光电二极管(PIN‑diode)。在被测样品与荧光探测装置之间安置可过滤电子的过滤膜。测量装置内集成样品安放装置,采用掠入射几何,与X射线的夹角范围为1‑4°。通过大面积探测器、过滤膜、掠入射几何的结合,可实现材料X射线吸收谱的有效检测,相对于传统的探测器来说,探测灵敏度和探测效率都有大幅提升。本发明还提供一种X射线吸收谱测量方法。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖南;43 |
申请人: |
长沙新材料产业研究院有限公司 |
发明人: |
刘涛;唐跃强;黄翀 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201711389552.6 |
公开号: |
CN107941836A |
代理机构: |
长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 |
代理人: |
郭立中 |
分类号: |
G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
申请人地址: |
410205 湖南省长沙市岳麓区麓谷企业广场B8栋7楼 |
主权项: |
一种X射线吸收谱测量装置,其特征在于:包括用于放置被测样品(20)的样品安放装置(8),所述被测样品(20)接收X射线并发出荧光信号;还包括用于探测所述荧光信号的荧光探测装置(6)以及与荧光探测装置(6)的输出电连接的处理器(10)。 |
所属类别: |
发明专利 |