专利名称: |
一种基于X射线吸收的地面大气密度测量方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,所述方法包括:将X射线源和SDD探测器同轴放置,沿轴线移动SDD探测器的位置,根据设置SSD探测器的通道数,获取能谱计数,并对其进行能量标定、量子效率标定、死时间标定、发散角标定,获得标定后的能谱计数;X射线源发出X射线光子,根据X射线光子在大气中传输的辐射衰减,利用X射线光子计数的泊松统计性质得到泊松统计极大似然估计;对标定后的能谱计数和泊松统计极大似然估计进行贝叶斯估计,获得地面大气密度的估计值。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国科学院国家空间科学中心 |
发明人: |
李海涛;李保权 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-03-11T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-31T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910180614.5 |
公开号: |
CN109827870A |
代理机构: |
北京方安思达知识产权代理有限公司 |
代理人: |
陈琳琳;李彪 |
分类号: |
G01N9/24(2006.01);G;G01;G01N;G01N9 |
申请人地址: |
100190 北京市海淀区中关村南二条1号 |
主权项: |
1.一种基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述方法包括: 将X射线源和SDD探测器同轴放置,沿轴线移动SDD探测器的位置,根据设置SSD探测器的通道数,获取能谱计数,并对其进行能量标定、量子效率标定、死时间标定、发散角标定,获得标定后的能谱计数;X射线源发出X射线光子,根据X射线光子在大气中传输的辐射衰减,利用X射线光子计数的泊松统计性质,得到泊松统计极大似然估计;对标定后的能谱计数和泊松统计极大似然估计进行贝叶斯估计,获得地面大气密度的估计值。 2.根据权利要求1所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述方法具体包括: 步骤1)将X射线源和SDD探测器同轴放置,且二者之间的轴线距离范围为0-2m,分别记录X射线源和SDD探测器的坐标位置; 步骤2)沿步骤1)的轴线由近及远水平移动SDD探测器的位置,并依次记录每一次移动后的SDD探测器的位置坐标; 步骤3)设置步骤2)中每一次移动后的SDD探测器的通道数,记录并保存每一次移动后的对应的能谱计数; 步骤4)对步骤3)中记录的能谱计数,选择两个特征峰进行能量标定,得到能量标定后的能谱计数; 步骤5)对步骤4)中的能量标定后的能谱计数进行死时间标定,得到死时间标定后的能谱计数; 步骤6)对步骤5)中的死时间标定后的能谱计数进行量子效率标定,得到量子效率标定后的能谱计数; 步骤7)对步骤6)中的量子效率标定后的能谱计数进行发散角标定,得到发散角标定后的能谱计数; 步骤8)X射线源发出X射线光子,根据X射线光子计数的泊松统计性质,得到泊松统计极大似然估计; 步骤9)对步骤6)中标定后的能谱计数和步骤7)中泊松统计极大似然估计进行贝叶斯估计,获得地面大气密度的估计值。 3.根据权利要求2所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述步骤4)具体为: 选择已知的两个特征谱线,假设这两个已知的特征谱线的能量分别记为E1、E2,这两个已知的特征谱线的通道分别为C1、C2,那么根据公式(1)和(2),对两个特征谱线进行能量标定,得到k和b,具体如下: E1=k*C1+b (1) E2=k*C2+b (2) 其中,k为一个通道对应的能量;b为能量参考点; 根据公式(1)、(2),将特征谱线的通道转换为特征谱线的能量,根据特征谱线的能量,获得X射线能谱计数与该能量之间的一种线性函数关系,根据该函数关系,获得能量标定后的能谱计数。 4.根据权利要求2所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述步骤5)具体为: 对步骤4)中的能量标定后的能谱计数进行死时间标定,得到死时间标定后的能谱计数Em; Em=Ei/(1-td) (3) 其中,Ei为步骤4)中能量标定后的能谱计数;td为死时间。 5.根据权利要求2所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述步骤6)具体为: 对死时间标定后的能谱计数进行量子效率标定,得到量子效率标定后的能谱计数; Ef=Em/η (4) 其中,Em为死时间标定后的能谱计数;Ef为量子效率标定后的能谱计数;η为量子效率。 6.根据权利要求2所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述步骤7)具体为: 对步骤6)中的死时间标定后的能谱计数进行发散角标定,获得发散角标定后的能谱计数: 其中,Ii为SDD探测器的标定后的能谱计数;Ef为SDD探测器测量的量子效率标定后的能谱计数;r0为SDD探测器的初始位置坐标;ri为SDD探测器第i次测量的位置坐标。 7.根据权利要求2所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述步骤8)具体包括: 步骤8-1)X射线源发出X射线光子,根据比尔定律,得到X射线光子在大气中传输的辐射衰减IMi; IMi=I0e-τ (6) 其中,I0为SDD探测器距离X射线源的距离最近处的能谱计数;τ为光学厚度;根据公式(6),计算光学厚度τ; 其中,α为需要拟合的未知参数;Li为SDD探测器和X射线源之间的距离;βN2,βO2,βCO2,βAr分别对应为N2、O2、CO2、Ar四种气体成分的体积份数;μN2,μO2,μCO2,μAr分别为N2、O2、CO2、Ar四种气体成分的吸收截面;N2、O2、CO2、Ar四种气体成分的吸收截面是随着X射线光子的能量变化而变化的一种对应关系,其中,利用NIST数据库计算与X射线光子的能量对应的吸收截面,并将其存储为数据文件;在该数据文件中包括X射线光子的能量和N2、O2、CO2、Ar四种气体成分的吸收截面;其中,X射线光子的能量与N2、O2、CO2、Ar四种气体成分的吸收截面之间是一一对应关系; 步骤8-2)根据获得的X射线光子在大气中传输的辐射衰减IMi;X射线光子计数的泊松统计性质,计算泊松统计极大似然估计lnL; lnL=∑i(IilnIMi-IMi-lnIi!) (8)。 8.根据权利要求2所述的基于X射线吸收的地面大气密度测量方法,其特征在于,所述步骤9)具体为: 对步骤7)中标定后的能谱计数和步骤8)中泊松统计极大似然估计进行贝叶斯估计,根据马尔科夫链蒙特卡洛算法,获得地面大气密度的估计值和地面大气密度的测量不确定度。 |
所属类别: |
发明专利 |