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基于单色X射线衍射的单晶任意晶面方向的测量方法
| 专利名称： | 基于单色X射线衍射的单晶任意晶面方向的测量方法 |
| 摘要： | 基于单色X射线衍射的单晶任意晶面方向测量方法，包括将已知一个晶面方向单晶样品安置在可旋转样品台旋转轴线上，计算待测晶面与已知晶面的理论夹角，计算待测晶面在X射线光源下产生衍射峰的布拉格角，布置X射线光源和X射线探测器使X射线入射向量与X射线出射向量夹角为布拉格角，使以照射点为顶点、X射线探测器中心与光源所构成角的角平分线与旋转轴线夹角等于晶面间理论夹角，启动X射线光源和X射线探测器，旋转样品，当出现衍射峰时停止旋转样品，在停止旋转位置周围不同位置测量衍射信号，比对所测衍射信号峰值强度以获得衍射信号最强的样品所处位置，以样品表面照射点为顶点、探测器中心与光源构成角的角平分线为待测晶面的晶面方向。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安交通大学 |
| 发明人： | 陈凯;寇嘉伟;朱文欣;沈昊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-19T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910884178.X |
| 公开号： | CN110579498A |
| 代理机构： | 北京中济纬天专利代理有限公司 |
| 代理人： | 覃婧婵 |
| 分类号： | G01N23/20(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 710049 陕西省西安市咸宁西路28号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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