专利名称: | 基于单色X射线衍射的单晶应力检测方法 |
摘要: | 本发明公开了一种基于单色X射线衍射的单晶应力检测方法,方法包括以下步骤:获得待检测单晶的晶向,基于所述晶向建立晶体坐标系,基于承载单晶的样品台建立样品坐标系,获取所述晶体坐标系相对于样品坐标系的旋转矩阵;布置单色X射线的入射方向和用于获得衍射信号的探测器与单晶样品相对位置使得单晶样品的晶面满足衍射条件,计算各衍射峰在空间上的位置,根据探测器可探测范围选取衍射峰,通过转动和倾转单晶样品,探测器采集第二步骤中所选取的衍射峰;通过旋转和倾转样品重构衍射峰以获得所述衍射峰实际2θ值;重复第三步骤至第四步骤,获取单晶样品其他晶面的衍射峰实际2θ值,基于所述衍射峰实际2θ值获得所述单晶的应力张量。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 陕西;61 |
申请人: | 西安交通大学 |
发明人: | 陈凯;沈昊;寇嘉伟;朱文欣 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2019-09-19T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-12-24T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201910891247.X |
公开号: | CN110609047A |
代理机构: | 北京中济纬天专利代理有限公司 |
代理人: | 覃婧婵 |
分类号: | G01N23/20(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: | 710049 陕西省西安市咸宁西路28号 |
所属类别: | 发明专利 |