专利名称: | 基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法 |
摘要: | 本发明提供了一种基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法。它采 用基于X射线的密度、浓度和厚测试仪测定2至5个密度、浓度和厚测已知的 样品,通过最小二乘法计算得出参比计数管和工作计数管信号强度比与待测物 质密度或浓度关系式,测定未知物质的密度或浓度时,它与工作计数管信号强 度与参比计数管信号强度比遵循该关系式。本发明置于被检测物体的两侧,结 构紧凑,使用方便,能够实现在线测量;同时能够达到一种装置可以多种用途, 应用范围广。优于目前其他密度、浓度和测厚仪器和装置所使用的方法。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 浙江;33 |
申请人: | 浙江大学 |
发明人: | 叶 瑛;刘利光;秦华伟;夏枚生;潘依雯 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-06-15T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910099786.6 |
公开号: | CN101587052 |
代理机构: | 杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人: | 张法高 |
分类号: | G01N9/24(2006.01)I |
申请人地址: | 310027浙江省杭州市浙大路38号 |
主权项: | 1.一种基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置,其特征在于包括n形支架 (1)、参比计数管(2)、工作计数管(3)、连接支架(5)、动力缆(6)、前置 放大和模数转换(7)、抗干扰信号缆(8)、计算机(9)、射线源(10)、配电与 控制系统(11);在n形支架(1)两滑轨上分别设有参比计数管(2)、工作计 数管(3);参比计数管(2)通过连接支架(5)与射线源(10)连接;工作计 数管(3)与前置放大和模数转换(7)、抗干扰信号缆(8)、计算机(9)依次 连接;连接支架(5)和工作计数管(3)通过动力缆(6)与配电与控制系统(11) 连接。 |
所属类别: | 发明专利 |