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一种基于太赫兹技术的热障涂层平行裂纹监测方法
| 专利名称： | 一种基于太赫兹技术的热障涂层平行裂纹监测方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于太赫兹技术的热障涂层内部平行裂纹监测方法，其特征在于，包括：利用反射式太赫兹时域光谱系统垂直发射太赫兹脉冲至热障涂层，得到其时域光谱图；计算其陶瓷层的折射率n和厚度D；对热障涂层预制平行裂纹，利用反射式太赫兹时域光谱系统垂直发射太赫兹脉冲至热障涂层，得到其时域光谱图；在时域光谱图中提取第二次和第三次反射峰的时间差，根据裂纹宽度计算模型计算出平行裂纹的裂纹宽度；判断裂纹属于涂层内部平行裂纹还是界面平行裂纹，根据判断计算平行裂纹上表面与陶瓷层上表面的距离。本发明的监测方法可以在测量时同时得到时间延时和折射率，从而实现热障涂层平行裂纹在线监测，并且可以确定平行裂纹的具体位置和宽度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 华东理工大学 |
| 发明人： | 王卫泽;叶东东;周海婷;黄继波;陆翔;轩福贞;涂善东 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811348867.0 |
| 公开号： | CN109490244A |
| 代理机构： | 上海智信专利代理有限公司 31002 |
| 代理人： | 邓琪 |
| 分类号： | G01N21/3586(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 200237 上海市徐汇区梅陇路130号 |
| 主权项： | 1.一种基于太赫兹技术的热障涂层内部平行裂纹监测方法，其特征在于，包括：步骤S1：利用反射式太赫兹时域光谱系统垂直发射太赫兹脉冲至一完整的热障涂层，得到完整的热障涂层的时域光谱图；步骤S2：计算完整的热障涂层的陶瓷层的折射率n和厚度D；步骤S3：取下所述热障涂层，对所述热障涂层预制平行裂纹；步骤S4：利用所述反射式太赫兹时域光谱系统垂直发射太赫兹脉冲至所述存在平行裂纹的热障涂层，得到存在平行裂纹的热障涂层的时域光谱图；步骤S5：在存在平行裂纹的热障涂层的时域光谱图中提取第二次和第三次反射峰的时间差ΔT，根据裂纹宽度计算模型计算出平行裂纹的裂纹宽度ΔD；步骤S6：结合S4所述的存在平行裂纹的热障涂层的时域光谱图，判断裂纹属于涂层内部平行裂纹还是界面平行裂纹；步骤S7：根据步骤S6的判断计算平行裂纹上表面与陶瓷层上表面的距离d。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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