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原文传递 基于太赫兹衰减全反射技术的transwell检测装置及方法
专利名称: 基于太赫兹衰减全反射技术的transwell检测装置及方法
摘要: 本发明涉及一种基于太赫兹衰减全反射技术的transwell检测装置及方法,可用于对transwell实验小室下层的细胞进行快速、无标记定量检测。该检测装置包括:太赫兹信号发生单元,包括飞秒激光光源、激光分束器、超半球硅透镜Ⅰ和光电导天线Ⅰ;全反射棱镜检测单元,由上而下包括transwell小室和全反射棱镜,transwell小室的底部设有通透性多孔薄膜,多孔薄膜的下方附着单细胞层,单细胞层与全反射棱镜紧密接触;太赫兹信号接收单元,包括光电导天线Ⅱ;时间延迟控制系统,包括时间延迟器;信号处理单元。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 重庆;50
申请人: 中国人民解放军陆军军医大学第一附属医院
发明人: 赵祥;府伟灵;王云霞;张立群;张阳;杨翔;杨柯;陈雪萍;刘羽;黄姣祺;熊瑜
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201811271543.1
公开号: CN109060729A
代理机构: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275
代理人: 赵荣之
分类号: G01N21/552(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/552
申请人地址: 400038 重庆市沙坪坝区高滩岩正街30号
主权项: 1.基于太赫兹衰减全反射技术的transwell细胞实验检测装置,其特征在于,包括:太赫兹信号发生单元,包括飞秒激光光源、激光分束器、超半球硅透镜Ⅰ和光电导天线Ⅰ,飞秒激光光源发射激光在激光分束器作用下分为泵浦光束和探测光束,泵浦光束经过超半球硅透镜Ⅰ聚焦、准直可激发光电导天线Ⅰ向全反射棱镜检测单元发射太赫兹波;全反射棱镜检测单元,由上而下包括transwell小室和全反射棱镜,transwell小室的底部设有通透性多孔薄膜,多孔薄膜的下方附着单细胞层,单细胞层与全反射棱镜紧密接触,用于同全反射棱镜表面发生全反射产生的垂直方向分布的倏逝波充分相互作用,调制反射太赫兹波;太赫兹信号接收单元,包括光电导天线Ⅱ,用于接收全反射棱镜检测单元反射的携带贴壁单细胞层信息的太赫兹波;时间延迟控制系统,包括时间延迟器,其设置于激光分束器与光电导天线Ⅰ之间,用于控制太赫兹信号发生单元产生和发射太赫兹波;信号处理单元,包括计算机,用于采集和分析太赫兹信号接收单元获得的太赫兹波,完成transwell细胞实验检测。
所属类别: 发明专利
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