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原文传递一种同步辐射硬X射线微聚焦实验方法

专利名称：	一种同步辐射硬X射线微聚焦实验方法
摘要：	本发明涉及一种同步辐射硬X射线微聚焦实验方法，其包括提供一同步辐射硬X射线微聚焦实验平台，该平台包括依次排列的一聚焦元件，其接收入射的非聚焦硬X射线，并射出聚焦硬X射线；一前电离室组件，其对所述聚焦硬X射线进行限束，并测量该聚焦硬X射线的光通量；一多维样品控制台，其用于调节放置在其上的样品的姿态；所述探测器组件用于满足不同实验的探测需要。本发明通过将聚焦元件与专门搭建的前电离室组件、多维样品控制台和探测器组件组合在一起，并通过多维样品控制台调整样品姿态，通过探测器组件满足不同实验的探测需要，从而同时满足了原位对样品进行荧光mapping实验、微束衍射实验和微束吸收谱实验的要求。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	中国科学院上海应用物理研究所
发明人：	闫帅;李志军;叶祥熙;蒋力
专利状态：	有效
申请号：	CN201811348863.2
公开号：	CN109490336A
代理机构：	上海智信专利代理有限公司 31002
代理人：	邓琪;杨希
分类号：	G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号
主权项：	1.一种同步辐射硬X射线微聚焦实验方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤S0，提供一同步辐射硬X射线微聚焦实验平台，其包括依次排列的：一聚焦元件；一前电离室组件，其通过一限束孔对所述聚焦硬X射线进行限束，并测量该聚焦硬X射线的光通量；一多维样品控制台，其包括：由下至上依次安装在一起的一第二Y方向电机、一第二X方向电机、一第二Z方向电机、一第一旋转电机、一第三Y方向电机、一第三X方向电机、一第三Z方向电机、一第一俯仰角电机、一第二旋转电机，以及一样品架；以及一探测器组件，其包括：一主控移动电机、由下至上依次安装在所述主控移动电机上的一手动Z方向控制器和一衍射面型探测器、由下至上依次安装在所述主控移动电机上的一后电离室支架、一后电离室、一第二俯仰角电机、一转接板、一平移电机和一荧光探测器，以及由下至上依次安装在所述主控移动电机上的一第四Z方向电机、一第四Y方向电机和一显微镜；步骤S1，将入射的非聚焦硬X射线引入所述聚焦元件，并调节所述聚焦元件，以使其射出聚焦硬X射线；步骤S2，根据所述非聚焦硬X射线的横截面尺寸、焦距尺寸以及所述限束孔的孔径尺寸，计算获得该限束孔距离所述聚焦硬X射线的聚焦点的距离L，并根据该距离L调节所述限束孔与所述聚焦元件的相对位置；步骤S3，调节使所述聚焦硬X射线通过所述限束孔的中心；步骤S4，调节所述第二Y方向电机、第二X方向电机和第二Z方向电机，以使所述第一旋转电机的旋转轴通过聚焦硬X射线的聚焦点；步骤S5，将十字铂丝放置在所述样品架上；步骤S6，调节所述第三Y方向电机、第三X方向电机和第三Z方向电机308，以使所述十字铂丝的十字中点位于在聚焦硬X射线的聚焦点上；步骤S7，调节所述主控移动电机、第四Z方向电机和第四Y方向电机，以使所述十字铂丝的十字中点对准所述显微镜的焦平面上的标记点；步骤S8，将样品放置在所述样品架上；步骤S9，调节所述第一俯仰角电机，以使所述样品平行于所述第三Z方向电机，再调节所述第二旋转电机，以使所述样品平行于所述第三X方向电机；步骤S10，调节所述第三Y方向电机、第三X方向电机和第三Z方向电机，以使所述样品上的感兴趣点对准所述显微镜的焦平面上的标记点；步骤S11，调节所述主控移动电机，以将所述荧光探测器和后电离室置于光路上；步骤S12，调节所述第二俯仰角电机和平移电机，以使所述荧光探测器在YZ平面内沿与Y方向成30°夹角的方向运动直至与所述样品上的感兴趣点保持预设的角度和距离；步骤S13，扫描所述第三X方向电机和第三Z方向电机，进行荧光mapping实验；步骤S14，根据荧光mapping实验的实验结果以及所述前电离室组件测量到的所述聚焦硬X射线的光通量，选择所述样品上的感兴趣点进行吸收谱实验；步骤S15，调节所述主控移动电机和手动Z方向控制器，以将所述衍射面型探测器置于预设位置，并对所述样品上的感兴趣点进行微束衍射实验。
所属类别：	发明专利