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一种基于X光倾斜摄影原理的PCB板过孔质量检测方法
| 专利名称： | 一种基于X光倾斜摄影原理的PCB板过孔质量检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了涉及一种基于X光倾斜摄影原理的PCB板过孔质量检测方法，包括以下步骤：将需要检测的PCB板放置在X射线发射器与X射线探测器之间，而且将PCB板进行倾斜设置；开启X射线发射器，将X射线照射在PCB板，由于X射线可透过的特性，X射线可穿过PCB板照射在X射线探测器上；X射线探测器根据接收到的X射线转化成人肉眼能看清的影像，本发明的方法基于倾斜摄影原理与X光的可透过性的特性，可以获取比较清晰的PCB过孔的实际影像，再利用计算机深度学习算法，自动判别PCB过孔的缺陷类型，从而达到自动检测PCB过孔质量检测的目的。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市纳研科技有限公司 |
| 发明人： | 葛仁彦 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811387273.0 |
| 公开号： | CN109507214A |
| 代理机构： | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 |
| 代理人： | 李俊 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市福田区沙头街道车公庙泰然九路海松大厦A-1102 |
| 主权项： | 1.一种基于X光倾斜摄影原理的PCB板过孔质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将需要检测的PCB板放置在X射线发射器与X射线探测器之间，而且将PCB板倾斜设置；开启X射线发射器，将X射线照射在PCB板，由于X射线可透过的特性，X射线可穿过PCB板照射在X射线探测器上；X射线探测器根据接收到的X射线转化成人肉眼能看清的影像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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