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原文传递一种浅地层剖面参数测量装置

专利名称：	一种浅地层剖面参数测量装置
摘要：	本发明提供的浅地层剖面参数测量装置，包括：立体实验平台、固定于所述立体实验平台的沉积物模板、固定于所述沉积物模板底部的金属基板、可活动地安装于所述体实验平台上的发射换能器及接收换能器，所述发射换能器发射的声波穿透位于所述沉积物模板上的沉积物，并经所述金属基板反射后被所述接收换能器接收，本发明提供的浅地层剖面参数测量装置，设计简单可靠，使用方便，利用深海实验水池的特点，通过模拟海底沉积物特性，使用浅地层剖面仪测量海底沉积物的声学参数，从而为海底沉积物属性探测提供可靠参考。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	海南;46
申请人：	中国科学院深海科学与工程研究所
发明人：	曲治国;曹星慧;吕成财
专利状态：	有效
申请号：	CN201811544864.4
公开号：	CN109507289A
代理机构：	深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316
代理人：	曹卫良
分类号：	G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	572000 海南省三亚市吉阳区鹿回头路28号
主权项：	1.一种浅地层剖面参数测量装置，其特征在于，包括：立体实验平台、固定于所述立体实验平台的沉积物模板、固定于所述沉积物模板底部的金属基板、可活动地安装于所述体实验平台上的发射换能器及接收换能器，其中：所述发射换能器发射的声波穿透位于所述沉积物模板上的沉积物，并经所述金属基板反射后被所述接收换能器接收。
所属类别：	发明专利