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原文传递 基于叉指凹槽结构的无参比电极GaN基pH传感器及其制备方法
专利名称: 基于叉指凹槽结构的无参比电极GaN基pH传感器及其制备方法
摘要: 本发明涉及半导体pH传感器技术领域,更具体地,涉及一种基于叉指凹槽结构的无参比电极GaN基pH传感器及其制备方法;包括下述步骤:首先在GaN外延材料上生长AlGaN势垒层,通过光刻显影的方法完成图形转移,进而通过刻蚀的方法,减薄pH探测区的势垒层厚度形成凹槽结构,然后对器件表面沉积掩膜并完成图形转移,通过刻蚀完成器件隔离,在凹槽结构沉积对pH变化敏感的探测材料并制备欧姆电极,最终封装凹槽结构以外区域形成探测器件。本发明工艺简单,引入叉指凹槽结构可以有效的提升器件跨导,表现在探测结果上是提升了器件的探测感度,并且具有较快的响应速度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 中山大学
发明人: 李柳暗;王亚朋;刘扬
专利状态: 有效
申请号: CN201811333780.6
公开号: CN109540988A
代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102
代理人: 陈卫
分类号: G01N27/30(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27
申请人地址: 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
主权项: 1.一种基于叉指凹槽结构的无参比电极GaN基pH传感器,其特征在于,其结构由下往上依次包括衬底(1);应力缓冲层(2);GaN外延层(3);AlGaN势垒层(4):AlGaN势垒层(4)形成凹槽结构;欧姆接触电极(5):AlGaN势垒层(4)的两端形成欧姆接触电极(5);封装材料层(6):覆盖于欧姆接触电极(5)表面;高敏感度探测材料(7):填充于AlGaN势垒层(4)形成凹槽结构中。
所属类别: 发明专利
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