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原文传递光谱仪以及微全分析系统

专利名称：	光谱仪以及微全分析系统
摘要：	一种光谱仪以及微全分析系统。光谱仪包括：波导结构、点光源、准直镜以及反射光栅。波导结构包括第一面和第二面，点光源位于第一面，准直镜位于第二面，准直镜被配置为将经过波导结构并入射到准直镜的点光源发出的光转化为准直光，准直光在波导结构中全反射传播。反射光栅位于准直光在全反射传播过程中经过的波导结构的反射面，反射光栅被配置为使入射到反射光栅的准直光中的不同波长范围的光的出射角度不同，从而使不同波长范围的光在全反射传播过程中具有一定偏移量。光谱仪既可避免不同波长范围的光发生串扰，又可以波导结构为载体，支撑点光源、准直镜和反射光栅，实现了光谱仪的小型化、便携化以及稳定性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	京东方科技集团股份有限公司
发明人：	王方舟;王维;孟宪芹;陈小川;孟宪东;梁蓬霞;凌秋雨;刘佩琳;田依杉;郭宇娇
专利状态：	有效
申请号：	CN201811237706.4
公开号：	CN109540807A
代理机构：	北京市柳沈律师事务所 11105
代理人：	焦玉恒
分类号：	G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
主权项：	1.一种光谱仪，包括：波导结构，包括第一面和第二面；点光源和准直镜，所述点光源位于所述第一面，所述准直镜位于所述第二面，所述准直镜被配置为将经过所述波导结构并入射到所述准直镜的所述点光源发出的光转化为准直光，所述准直光在所述波导结构中全反射传播；反射光栅，位于所述准直光在全反射传播过程中经过的所述波导结构的反射面，所述反射光栅被配置为使入射到所述反射光栅的所述准直光中的不同波长范围的光的出射角度不同，从而使所述不同波长范围的光在全反射传播过程中具有一定偏移量。
所属类别：	发明专利