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一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统
| 专利名称： | 一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，由霍尔元件阵列、U型磁芯、激励线圈、信号处理器、电源模块、单片机、功率放大器激发端阻抗匹配、发射探头、接收探头、上位机组成；单片机输出低频交变信号给激励线圈，磁化U型磁芯，使其与待测构件形成一个局部的漏磁环境，让被检测导磁构件在缺陷处形成漏磁场，并被置于该区域的霍尔元件阵列所感应，经信号处理后，送入上位机处理，初步给出损伤位置；再用超声探测对该部位进行精确测量，给出具体损伤情况；该发明粗检结合精检，检验更灵活，且精确度更高，是对传统的基于漏磁检测原理的一次革新。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中国计量大学 |
| 发明人： | 苏越洋;沈常宇;李光海 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-31T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-07-30T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910474214.5 |
| 公开号： | CN110068609A |
| 分类号： | G01N27/83(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 |
| 主权项： | 1.一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统，由霍尔元件阵列(1)、U型磁芯(2)、激励线圈(3)、信号处理器(4)、电源模块(5)、单片机(6)、功率放大器(7)、激发端阻抗匹配(8)、发射探头(9)、接收探头(10)、上位机组成(11)；霍尔元件阵列(1)采用2*4布置差动处理的方法，两列霍尔元件背对背排列，电源模块(5)给整个系统供电，单片机(6)输出低频交变信号给激励线圈(3)，磁化U型磁芯(2)，使其与待测构件形成磁回路，形成一个局部的磁真空泄露环境，让被检测导磁构件体内磁通在缺陷处泄漏到所创造的磁真空区域，形成漏磁场并被置于该区域的霍尔元件阵列(1)所感应，产生检测电信号经信号处理器(4)处理后通过数字式通信接口，送入上位机(11)通过MATLAB处理，形成相位图和幅值图，初步反应出损伤；单片机(6)产生1MHz的高频交变信号，在通过功率放大器(7)进行放大，通过激发端阻抗匹配(8)给发射探头(9)；接收探头(10)接受到待测构件的电磁超声波，产生电信号经信号处理器(4)处理后通过数字式通信接口，经上位机(11)处理后，给出损伤的具体情况。 2.根据权利要求1所述的一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统,其特征在于:霍尔元件阵列(1)与待测构件间隔1mm-2mm。 3.根据权利要求1所述的一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统,其特征在于:发射探头(9)和接收探头(10)与待测构件间隔10mm-20mm。 4.根据权利要求1所述的一种漏磁粗检结合超声精测复合型承压设备内部探伤系统,其特征在于:发射探头(9)与接收探头(10)间隔125mm。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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