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原文传递半导体三温自动测试生产线

专利名称：	半导体三温自动测试生产线
摘要：	本发明公开了半导体三温自动测试生产线，包括高温测试线、低温测试线以及设置在所述高温测试线与所述低温测试线之间的SCARA机器人，高温测试线，所述高温测试线的末端设置有控制柜，所述高温测试线包括底座、高温测试箱，所述底座上表面前后两端分别活动设置有上料台和高温转转接台，所述高温测试箱设置在所述底座的中部；低温测试线，所述低温测试线的末端设置有测试机电脑，所述低温测试箱设置在所化底座的中部；SCARA机器人，本发明全线均采用全检测自动、模块化设计，整线测试无需人员操作。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	安徽;34
申请人：	安徽奥博智能科技有限公司
发明人：	邓志威;周伟
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-30T00:00:00+0800
申请号：	CN201910171870.8
公开号：	CN110065814A
代理机构：	合肥中博知信知识产权代理有限公司
代理人：	张加宽
分类号：	B65G47/90(2006.01);B;B65;B65G;B65G47
申请人地址：	233020 安徽省蚌埠市淮上区长征北路878号
主权项：	1.半导体三温自动测试生产线，包括高温测试线、低温测试线以及设置在所述高温测试线与所述低温测试线之间的SCARA机器人(4)，其特征在于：高温测试线，所述高温测试线的末端设置有控制柜(10)，所述高温测试线包括底座(17)、高温测试箱(2)，所述底座(17)上表面前后两端分别活动设置有上料台(1)和高温转转接台(3)，所述高温测试箱(2)设置在所述底座(17)的中部；低温测试线，所述低温测试线的末端设置有测试机电脑(12)，所述低温测试线包括底座(17)、低温测试箱(2)，所述底座(17)上表面前后两端分别活动设置有下料台(9)和低温转接台(7)，且低温转接台(7)与所述高温转接台(3)结构相同，所述低温测试箱(8)设置在所化底座(17)的中部； SCARA机器人(4)，所述SCARA机器人(4)安装在滑台(6)上表面，所述高温测试线与所述低温测试线之间设置有滑轨(5)，所述滑台(6)滑动设置在所述滑轨(5)上。 2.根据权利要求1所述的半导体三温自动测试生产线，其特征在于，所述上料台(1)上表面四角处均设置有定位块(13)，所述定位块(13)呈矩形分布，且定位块(13)上卡设有托盘(12)，所述托盘(12)内均匀排列有托板(11)，所述上料台(1)中部设置有贯穿所述高温测试箱(2)的进料板(14)，且延伸至所述高温转接台(3)上表面，所述进料板(14)的上表面沿长边方向等间隔设置有限位板(141)，所述进料板(14)的前端下表面设置有进料气缸(16)，所述进料气缸(16)的输出端设置有推料板(15)。 3.根据权利要求2所述的半导体三温自动测试生产线，其特征在于，所述定位块(13)包括相互垂直设置在所述上料台(1)上的第一横板(131)和第二纵板(132)，所述第一横板(131)的内壁设置有第二横板(133)，所述第二纵板(134)的内壁设置有第二纵板(134)，所述第二横板(133)和第二纵板(134)的高度低于所述第一横板(131)和第二纵板(132)的高度。 4.根据权利要求2所述的半导体三温自动测试生产线，其特征在于，所述推料板(15)包括与所述进料气缸(16)输出端固定连接的连接板(152)，所述连接板(152)的顶部垂直设置有板体(151)，所述板体(151)向所述进料板(14)方向延伸。 5.根据权利要求1所述的半导体三温自动测试生产线，其特征在于，所述高温转接台(2)包括设置在所述设置在所述进料板(14)末端下表面的出料气缸(32)，所述出料气缸(32)的输出端设置有进料块(31)。 6.根据权利要求1所述的半导体三温自动测试生产线，其特征在于，所述下料台(9)上设置进料板(14)，所述高温测试箱(2)与所述进料板(14)的交接处设置有密封板(21)，所述低温测试箱(8)与所述进料板(14)的交接处设置有保温板(81)。
所属类别：	发明专利