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原文传递集成电路引线框架缺陷检测装置

专利名称：	集成电路引线框架缺陷检测装置
摘要：	本发明提供一种集成电路引线框架缺陷检测装置，其包括：两个视觉检测工位，其中任一视觉检测工位包括：上料机构、推料机构、下料机构、检测机构。本发明的集成电路引线框架缺陷检测装置能够实现线框的自动上料、检测、下料以及分拣，其有利于线框的快速、精确检测，充分满足了现代化工业生产的实际需求，有利于保障后续与集成电路芯片的良好配合。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司
发明人：	王敕;李锡凡;陆城燕
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-05T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201910367524.7
公开号：	CN110082357A
代理机构：	苏州国诚专利代理有限公司
代理人：	杨淑霞
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	215513 江苏省苏州市常熟经济技术开发区四海路11号科创园5-102
主权项：	1.一种集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述集成电路引线框架缺陷检测装置包括：两个视觉检测工位，其中任一视觉检测工位包括：上料机构、推料机构、下料机构、检测机构；所述上料机构位于所述检测机构的上料端，其包括：来料盒、隔纸盒、上料机械手，所述隔纸盒位于所述来料盒的一侧，所述上料机械手包括：上料机械臂以及设置于所述上料机械臂上的若干上料头，所述上料机械臂带动其上的若干上料头进行X方向以及Z方向的往复运动；所述推料机构位于所述检测机构的上料端，并位于所述上料机构的一侧，其包括：推料杆、推料平台，所述推料杆设置于所述推料平台的一侧，并推动所述推料平台自所述上料端至所述检测机构上；所述检测机构包括：沿Y方向布置的直线电机以及设置于所述直线电机上方的多个检测相机，所述多个检测相机按照所述Y方向间隔设置；所述下料机构位于所述检测机构的下料端，其包括：良品盒、隔纸盒、不良品盒、下料机械手，所述良品盒、隔纸盒、不良品盒沿X方向并排设置，所述下料机械手包括：下料机械臂以及设置于所述下料机械臂上的若干下料头，所述下料机械臂带动其上的若干下料头进行X方向以及Z方向的往复运动。 2.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，两个视觉检测工位集成设置于一个机台上，且两个视觉检测工位中心对称设置。 3.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述上料机构还包括：上料输送线，所述上料输送线一端延伸至上料位，所述来料盒由所述上料传输线输送至所述上料端。 4.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述上料机械臂由一X方向布置的第一丝杆驱动进行X方向的往复运动，所述第一丝杆的丝杆座与Z方向布置的第一气缸传动连接进行Z方向的往复运动。 5.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述上料头为两个，两个上料头按照所述来料盒与隔纸盒之间的中心间距间隔排布于所述上料机械臂上。 6.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述推料杆与第三气缸传动连接，由第三气缸驱动沿Y方向进行推料动作，所述推料平台下方设置有辅助其滑动至检测机构上的轨道。 7.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述检测机构还包括设置于所述直线电机一侧的辅助所述推料平台运动的线轨。 8.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述良品盒分布于所述隔纸盒的一侧，所述不良品盒分布于所述隔纸盒的另一侧，所述良品盒与所述隔纸盒的中心间距与所述不良品盒与隔纸盒的中心间距保持一致，所述下料头为两个，两个下料头按照所述中心间距间隔排布于所述下料机械臂上。 9.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述下料机械臂由一X方向布置的第二丝杆驱动进行X方向的往复运动，所述第二丝杆的丝杆座与Z方向布置的第二气缸传动连接进行Z方向的往复运动。 10.根据权利要求1所述的集成电路引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述上料机构所在的底座的底部与一升降机构相连接，所述升降机构包括：步进电机、丝杆以及升降台，所述丝杆一端与所述升降台的底部固定连接，且所述丝杆与所述步进电机的电机轴通过斜螺纹进行配合。
所属类别：	发明专利