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原文传递光学系统构造体以及光学测定装置

专利名称：	光学系统构造体以及光学测定装置
摘要：	本实用新型的目的在于提供光学系统构造体以及光学测定装置。在对光路部的介质使用了固体或者液体的光学测定装置中，能够抑制拉曼光并提高测定精度的光学系统构造体等。在光学测定系统中具备：光路部，使在光学测定系统中对测定试样照射波数k1的第1光而产生的观测光透射；以及遮光部，遮挡从外部向所述光路部的光，并且通过折射率与所述光路部匹配而降低所述光路部的内部的噪声光，所述光路部使用固体或者液体作为介质，所述光学系统构造体具备滤波器部件，在所述光路部的内部遮挡由所述第1光穿过所述光路部时产生的拉曼位移所引发的波数k2的第2光的行进。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	国立大学法人九州大学
发明人：	兴雄司;吉冈宏晃;森田金市
专利状态：	有效
申请日期：	2017-02-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201790000627.4
公开号：	CN209215224U
代理机构：	永新专利商标代理有限公司
代理人：	徐殿军
分类号：	G01N21/65(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本福冈
主权项：	1.一种光学系统构造体，其特征在于，具备：光路部，使在光学测定系统中对测定试样照射波数k1的第1光而产生的观测光透射；以及遮光部，遮挡从外部向所述光路部的光，并且通过折射率与所述光路部匹配而降低所述光路部的内部的噪声光，所述光路部使用固体或者液体作为介质，所述光学系统构造体具备滤波器部件，所述滤波器部件在所述光路部的内部遮挡由所述第1光穿过所述光路部时产生的拉曼位移所引发的波数k2的第2光的行进。 2.根据权利要求1所述的光学系统构造体，其特征在于，所述滤波器部件所遮挡的所述波数k2包含在所述观测光的波数范围内。 3.根据权利要求1或2所述的光学系统构造体，其特征在于，所述滤波器部件的至少一方的面与所述光路部接触。 4.根据权利要求1或2所述的光学系统构造体，其特征在于，所述光路部具有挠性。 5.根据权利要求4所述的光学系统构造体，其特征在于，所述光路部为硅酮树脂。 6.根据权利要求5所述的光学系统构造体，其特征在于，所述硅酮树脂为聚二甲基硅氧烷。 7.根据权利要求1或2所述的光学系统构造体，其特征在于，使用折射率与所述光路部的介质相同的介质作为所述遮光部的介质。 8.根据权利要求1或2所述的光学系统构造体，其特征在于，所述遮光部分散地含有吸收光的颜料。 9.一种光学测定装置，在光学测定系统中观测对测定试样照射波数k1的第1光而产生的观测光，其特征在于，所述光学测定装置具备：光源，照射所述第1光；光路部，使用固体或者液体作为介质，并使所述观测光透射；遮光部，遮挡从外部向所述光路部的光，并且通过折射率与所述光路部匹配来降低所述光路部的内部的噪声光；测定部，观测所述观测光；以及滤波器部件，在所述光路部的内部，遮挡由所述第1光穿过所述光路部时产生的拉曼位移所引发的波数k2的第2光的行进。 10.根据权利要求9所述的光学测定装置，其特征在于，还具备波数调整部，将所述第1光的波数调整为与所述观测光的光强度成为最大的波数不同的波数。 11.根据权利要求10所述的光学测定装置，其特征在于，所述波数调整部以所述第2光的波数成为与所述观测光的波数范围不同的波数的方式对所述第1光的波数进行调整。 12.根据权利要求9～11中任一项所述的光学测定装置，其特征在于，还具备透镜、陷波滤波器以及有色玻璃滤波器。 13.根据权利要求9～11中任一项所述的光学测定装置，其特征在于，在从所述光源至所述测定部的光路中，以按顺序配置的方式具备：使所述第1光以及所述第2光为平行光的第1透镜；将所述第1光反射的陷波滤波器；吸收所述观测光以外的光的有色玻璃滤波器；使包含所述观测光的光聚光的第2透镜；以及处于所述第2透镜的光轴上、并且是所述第2光被聚光的位置的附近光阑，所述滤波器部件配置于所述第1透镜以及所述第2透镜之间。
所属类别：	实用新型