专利名称: |
一种砷化镓晶片切割方法 |
摘要: |
本发明公开了一种砷化镓晶片切割方法,包括以下步骤:步骤一:先使晶片切割机的刀片以(10~20)毫米/秒的进给速度对砷化镓晶圆片进行第一次切割,切割深度为砷化镓晶圆片厚度的(25~35)%;步骤二:再使晶片切割机的刀片以(10~20)毫米/秒的进给速度继续对第一次切割后的砷化镓晶圆片进行第二次切割,切割深度为砷化镓晶圆片厚度的(25~35)%;步骤三:最后使晶片切割机的刀片以(5~10)毫米/秒的进给速度继续对第二次切割后的砷化镓晶圆片进行第三次切割,直至刀片切透砷化镓晶圆片形成砷化镓晶片。本发明具有可靠性高且能提高砷化镓晶片成品率的优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
苏州芯海半导体科技有限公司 |
发明人: |
程进;陈龙 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-03-25T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-16T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910225988.4 |
公开号: |
CN110126104A |
代理机构: |
南京苏科专利代理有限责任公司 |
代理人: |
陈望坡;黄春松 |
分类号: |
B28D5/00(2006.01);B;B28;B28D;B28D5 |
申请人地址: |
215600 江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科技创业园B幢2层苏州芯海半导体科技有限公司 |
主权项: |
1.一种砷化镓晶片切割方法,其特征在于:包括以下步骤: 步骤一:先使晶片切割机的刀片以(10~20)毫米/秒的进给速度对砷化镓晶圆片进行第一次切割,切割深度为砷化镓晶圆片厚度的(25~35)%,在切割过程中,始终使用纯水对砷化镓晶圆片切割面及刀片进行冲洗冷却; 步骤二:再使晶片切割机的刀片以(10~20)毫米/秒的进给速度继续对第一次切割后的砷化镓晶圆片进行第二次切割,切割深度为砷化镓晶圆片厚度的(25~35)%;在切割过程中,始终使用纯水对砷化镓晶圆片切割面及刀片进行冲洗冷却; 步骤三:最后使晶片切割机的刀片以(5~10)毫米/秒的进给速度继续对第二次切割后的砷化镓晶圆片进行第三次切割,直至刀片切透砷化镓晶圆片形成砷化镓芯片,在切割过程中,始终使用纯水对砷化镓晶圆片切割面及刀片进行冲洗冷却。 2.根据权利要求1所述的一种砷化镓晶片切割方法,其特征在于:在步骤一中,晶片切割机的刀片的进给速度为15毫米/秒,切割深度为砷化镓晶圆片厚度的30%;在步骤二中,晶片切割机的刀片的进给速度为15毫米/秒,切割深度为砷化镓晶圆片厚度的30%;在步骤三中,晶片切割机的刀片的进给速度为8毫米/秒。 3.根据权利要求1或2所述的一种砷化镓晶片切割方法,其特征在于:在刀片对砷化镓晶圆片进行第一次切割、第二次切割及第三次切割过程中,所使用的纯水的电阻率需大于12兆欧。 |
所属类别: |
发明专利 |