专利名称: |
微粒检测器 |
摘要: |
提供一种微粒检测器(10),其具备:壳体(22);电荷产生部(30),其将通过放电而产生的电荷(28)附加给被导入至气体流路(24)内的气体中的微粒(26),使该微粒成为带电微粒(P);剩余电荷除去部(40),其对剩余电荷进行捕集;捕集部(50),其对带电微粒(P)进行捕集;以及个数检测部(60),其基于根据剩余电荷而发生变化的第一电流(I1)来对根据带电微粒(P)而发生变化的第二电流(I2)进行修正,并基于修正后的第二电流(I2)来检测微粒数。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
日本碍子株式会社 |
发明人: |
菅野京一;奥村英正;水野和幸 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-02-01T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-16T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910102840.1 |
公开号: |
CN110132807A |
代理机构: |
北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
王轶;郑雪娜 |
分类号: |
G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
申请人地址: |
日本国爱知县 |
主权项: |
1.一种微粒检测器,其用于检测气体中的微粒, 所述微粒检测器的特征在于,具备: 壳体,该壳体具有供所述气体通过的气体流路; 电荷产生部,该电荷产生部将通过放电而产生的电荷附加给被导入至所述气体流路内的所述气体中的微粒,使所述微粒成为带电微粒; 第一捕集部,该第一捕集部在所述气体流路内被设置于比所述电荷产生部更靠向所述气体的气体流的下游侧的位置,并对未被附加在所述微粒上的剩余电荷进行捕集; 第二捕集部,该第二捕集部在所述气体流路内被设置于比所述第一捕集部更靠向所述气体的气体流的下游侧的位置,并对所述带电微粒进行捕集;以及 检测部,该检测部基于下述的第一物理量,来对下述的第二物理量进行修正,并基于修正后的所述第二物理量,来检测所述微粒的量,即,所述第一物理量是根据所述第一捕集部所捕集到的所述剩余电荷而发生变化的物理量,所述第二物理量是根据所述第二捕集部所捕集到的所述带电微粒而发生变化的物理量。 2.根据权利要求1所述的微粒检测器,其特征在于, 所述检测部对由所述电荷产生部产生所述电荷的前后阶段所述第一物理量是否发生了变化进行判定,如果所述第一物理量没有发生变化,所述检测部则在该时机进行所述第二物理量的零点修正。 3.根据权利要求2所述的微粒检测器,其特征在于, 所述检测部在判定由所述电荷产生部产生所述电荷的前后所述第一物理量是否发生了变化之时,将由所述电荷产生部刚刚产生所述电荷之前的所述第一物理量和如下所述求出的期间内的所述第一物理量进行比较来进行判定,所述期间是指,预先在所述气体的流量为零时由所述电荷产生部产生所述电荷,然后所述电荷到达所述第一捕集部所需的期间。 4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的微粒检测器,其特征在于, 所述检测部基于所述第一物理量,来求出每1个所述微粒的带电数,利用所述带电数来对所述第二物理量进行修正,并基于修正后的所述第二物理量,来检测所述微粒的量。 5.根据权利要求4所述的微粒检测器,其特征在于, 所述检测部在基于所述第一物理量,来求出每1个所述微粒的带电数时,使用预先存储于存储部的所述第一物理量、与每1个所述微粒的带电数之间的对应关系,来求出与所述第一物理量相对应的每1个所述微粒的带电数。 |
所属类别: |
发明专利 |