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原文传递用于通过基材料分解来评估多能量X射线图像的方法

专利名称：	用于通过基材料分解来评估多能量X射线图像的方法
摘要：	提供了通过BMD来评估多能量X射线图像的方法，包括：a)获得材料的多能量X射线图像；b)处理多能量X射线图像以获得被分配给第一基材料的区域的第一表示以及被分配给第二基材料的区域的第二表示；c)、d)相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示以及相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示评估第一表示和第二表示。利用分配给其他第一基材料的改变后的第一参考值和/或分配给其他第二基材料的改变后的第二参考值重复步骤b)至d)以获得其他第一表示和其他第二表示。执行评估直到在其他第一表示中的第二区域的显示最少或就其量而言最少为止和/或直到在其他第二表示中的第一区域的显示最少或就其量而言最少为止。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	弗劳恩霍夫应用研究促进协会
发明人：	马库斯·菲尔兴;亚历山大·恩嫩
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-16T00:00:00+0800
申请号：	CN201910110778.0
公开号：	CN110133005A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	余婧娜
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	德国慕尼黑
主权项：	1.一种用于通过基材料分解来评估多能量X射线图像的方法(100)： a)获得(110)材料的多能量X射线图像，所述材料包括属于第一材料的第一材料区域和属于第二材料的第二材料区域； b)通过将在对所述材料的辐射期间每个区域测量到的辐射值与至少针对第一基材料的第一参考值(B1)和针对第二基材料的第二参考值(B2)进行比较来处理(120)所述多能量X射线图像，以获得表征所述第一基材料的区域的第一表示和表征所述第二基材料的区域的第二表示； c)相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示以及相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示，评估(130)所述第一表示； d)相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示以及相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示，评估(140)所述第二表示；以及 e)利用被分配给其他第一基材料的改变后的第一参考值(B1′)和被分配给其他第二基材料的改变后的第二参考值(B2′)来重复(150)步骤b)至d)，以获得和评估其他第一表示和其他第二表示，直到在其他第一表示中的第二区域的显示最少或就其量而言最少为止、和/或直到在其他第二表示中的第一区域的显示最少或就其量而言最少为止。 2.根据权利要求1所述的方法(100)，其中所述第一参考值和第二参考值(B1，B2)以及改变后的第一参考值和改变后的第二参考值(B1′，B2′)各自包括质子数和/或有效质子数。 3.根据权利要求1所述的方法(100)，其中步骤e)的结果包括根据第一基材料对所述第一材料区域的识别、和/或根据第二基材料对所述第二材料区域的识别；和/或其中步骤e)的结果包括将第一材料分配为第一基材料和/或将第二材料分配为第二基材料。 4.根据权利要求1所述的方法(100)，其中将使得分配给第二基材料的显示最少或就其量而言最少的第一参考值(B1，B1′)作为结果输出、和/或将使得分配给第一基材料的显示最少或就其量而言最少的第二参考值(B2，B2′)作为结果输出。 5.根据权利要求1所述的方法(100)，其中当评估(130)第一表示和/或其他第一表示时，考虑到关于分配给第二基材料的区域的显示在所述第一表示和/或所述其他第一表示中出现的信息和/或分配给第二基材料的区域在所述第一表示和/或所述其他第一表示中的显示程度的信息来确定因子；其中当评估(140)第二表示和/或其他第二表示时，考虑到关于分配给第一基材料的区域的显示在所述第二表示和/或所述其他第二表示中出现的信息和/或分配给第一基材料的区域在所述第二表示和/或所述其他第二表示中的显示程度的信息来确定因子；以及其中将使所确定的因子最小的第一参考值和第二参考值(B1，B2)作为结果。 6.根据权利要求1所述的方法(100)，其中针对预定义的多个第一参考值和多个第二参考值(B1，B2)来重复方法步骤e)。 7.根据权利要求1所述的方法(100)，其中基于方法步骤e)的第n-1次重复的结果来执行方法步骤e)的第n次重复。 8.根据权利要求7所述的方法(100)，其中当评估第一表示或其他第一表示时，通过-x到+x的因子来评估分配给第二基材料的区域的显示；以及其中当评估第二表示或其他第二表示时，通过-y到+y的因子来评估分配给第一基材料的区域的显示。 9.根据权利要求8所述的方法(100)，其中当y的符号为负时第一参考值(B1)在具有较大质子数的基材料的方向上变化，且当y的符号为正时第一参考值(B1)在具有较小质子数的基材料的方向上变化；和/或其中当x的符号为负时第二参考值(B2)在具有较大质子数的基材料的方向上变化，且当x的符号为正时第二参考值(B2)在具有较小质子数的基材料的方向上变化。 10.根据权利要求9所述的方法(100)，其中变化量取决于因子-x、x、-y、y的量。 11.根据权利要求1所述的方法(100)，其中在操作期间针对其他第二表示重复步骤a)至e)，以跟踪用于测量的第二基材料的参考值(B1，B2)。 12.根据权利要求1所述的方法(100)，其中所述方法包括在步骤a)之前确定所述材料的所述多能量X射线图像。 13.一种存储计算机程序的计算机可读介质，所述计算机程序当在计算机上运行时用于执行根据权利要求1所述的方法(100)。 14.一种用于通过基材料分解来评估多能量X射线图像的装置(20)，包括：接口，被配置为获得材料的多能量X射线图像，所述材料包括属于第一材料的第一材料区域和属于第二材料的第二材料区域；处理器，被配置为：通过将在对所述材料辐射时每个区域测量到的辐射值与至少针对第一基材料的第一参考值(B1)和针对第二基材料的第二参考值(B2)进行比较来处理所述多能量X射线图像，以获得表征所述第一基材料的区域的第一表示和表征所述第二基材料的区域的第二表示；以及相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示以及相对于由对第一材料区域的辐射得到的区域的显示来评估所述第一表示，以及相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示以及相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示来评估所述第二表示；其中利用被分配给不同的第一基材料的改变后的第一参考值和被分配给不同的第二基材料的改变后的第二参考值(Bl′，B2′)来重复由处理器执行的处理和评估，以获得和评估其他第一表示和其他第二表示，直到在其他第一表示中的第二区域的显示最少或就其量而言最少为止、和/或直到在其他第二表示中的第一区域的显示最少或就其量而言最少为止。 15.一种X射线系统(10)，包括： X射线源(12)、X射线检测器(14)以及根据权利要求14所述的装置。
所属类别：	发明专利