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原文传递一种磁瓦外观缺陷检测设备

专利名称：	一种磁瓦外观缺陷检测设备
摘要：	本实用新型提供一种磁瓦外观缺陷检测设备，属于自动化检测技术领域，包括用于传送磁瓦的检测传送机构、用于推送磁瓦的推送机构和用于检测磁瓦外观的视觉检测机构，还包括用于翻转磁瓦的翻转机构，检测传送机构包括两节以上独立的检测传送带，相邻检测传送带之间相互垂直排放且设有过渡导板，推送机构设置在检测传送带的一侧且与过渡导板在检测传送带的位置正相对，其中至少有两个相邻检测传送带之间安装有翻转机构，检测传送带的两侧分别设有视觉检测机构；本实用新型中的磁瓦外观缺陷检测设备具有对磁瓦外观检测效率高的优点。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	杭州听物科技有限公司
发明人：	苏建林;童辰辰;赵曙光
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201822119791.6
公开号：	CN209356423U
代理机构：	杭州求是专利事务所有限公司
代理人：	刘静;邱启旺
分类号：	G01N21/892(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	310023 浙江省杭州市余杭区五常街道五常大道158号1幢3层306、307室
主权项：	1.一种磁瓦外观缺陷检测设备，包括用于传送磁瓦的检测传送机构、用于推送磁瓦的推送机构和用于检测磁瓦外观的视觉检测机构，其特征在于：还包括用于翻转磁瓦的翻转机构(20)，检测传送机构包括两节以上独立的检测传送带，相邻检测传送带之间相互垂直排放且设有过渡导板，推送机构设置在检测传送带的一侧且与过渡导板在检测传送带的位置正相对，其中至少有两个相邻检测传送带之间安装有翻转机构(20)，检测传送带的两侧分别设有视觉检测机构。 2.根据权利要求1所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述检测传送机构包括第一检测传送带(2)、第二检测传送带(24)、第三检测传送带(18)和第四检测传送带(6)。 3.根据权利要求2所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述第二检测传送带(24)和所述第三检测传送带(18)之间安装有所述翻转机构(20)，所述翻转机构(20)可以将所述第二检测传送带(24)上的磁瓦翻转180°置于所述第二检测传送带(24)和所述第三检测传送带(18)之间的过渡导板上。 4.根据权利要求3所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述视觉检测机构包括外弧面正面检测机构(4)、内弧面正面检测机构(16)、外弧面左侧面检测机构(25)、外弧面右侧面检测机构(3)、外弧面左倒角面检测机构(23)、外弧面右倒角面检测机构(22)、左长度面检测机构(17)、右长度面检测机构(19)、左拱高面检测机构(15)、右拱高面检测机构(14)、内弧面左倒角面检测机构(10)和内弧面右倒角面检测机构(12)，所述外弧面左侧面检测机构(25)、所述外弧面右侧面检测机构(3)、所述外弧面正面检测机构(4)分别设置在所述第一检测传送带(2)的两侧，所述外弧面左倒角面检测机构(23)、所述外弧面右倒角面检测机构(22)分别设置在所述第二检测传送带(24)的两侧，所述左长度面检测机构(17)、所述右长度面检测机构(19)、所述内弧面正面检测机构(16)、所述左拱高面检测机构(15)、所述右拱高面检测机构(14)分别设置在所述第三检测传送带(18)的两侧，所述内弧面左倒角面检测机构(10)、所述内弧面右倒角面检测机构(12)分别设置在所述第四检测传送带(6)的两侧。 5.根据权利要求4所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述外弧面左侧面检测机构(25)、所述外弧面右侧面检测机构(3)、所述外弧面左倒角面检测机构(23)、所述外弧面右倒角面检测机构(22)、所述左长度面检测机构(17)、所述右长度面检测机构(19)、所述左拱高面检测机构(15)、所述右拱高面检测机构(14)、所述内弧面左倒角面检测机构(10)和所述内弧面右倒角面检测机构(12)均包括第一相机光源组合装置、第一光源组合装置和第一到位检测传感器(38)，所述第一相机光源组合装置安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述第一光源组合装置安装在相对应的所述检测传送带的上方，所述第一相机光源组合装置包括第一线性位移台(34)、第二线性位移台(32)、旋转位移台(33)、第一条形LED光源(37)、第一舵机(36)和第一相机(35)，所述第一线性位移台(34)水平放置，所述第二线性位移台(32)竖直放置，所述第一线性位移台(34)与所述第二线性位移台(32)相连接，所述旋转位移台(33)与所述第二线性位移台(32)相连接，所述第一相机(35)与所述旋转位移台(33)相连接，所述第一条形LED光源(37)与所述第一舵机(36)相连接，所述第一条形LED光源(37)安装在所述第一相机(35)下方，所述第一光源组合装置包括第三线性位移台(30)和第一环形LED光源(31)，所述第一环形LED光源(31)与所述第三线性位移台(30)相连接，所述第一到位检测传感器(38)安装在相对应的所述检测传送带的侧面且位于所述第一相机(35)的前方。 6.根据权利要求4所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述外弧面正面检测机构(4)和所述内弧面正面检测机构(16)均包括第二相机光源组合装置、第二光源组合装置和第二到位检测传感器(42)，所述第二相机光源组合装置包括第四线性位移台(46)、第二环形LED光源(45)、第二相机(47)，所述第四线性位移台(46)安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述第二相机(47)与所述第四线性位移台(46)相连接且位于相对应的所述检测传送带的上方，所述第二环形LED光源(45)与所述第四线性位移台(46)相连接且位于所述第二相机(47)的下方，所述第二光源组合装置包括第五线性位移台(40)、框架(41)、第二条形LED光源(44)和第二舵机(43)，所述第五线性位移台(40)安装在相对应的所述检测传送带的侧面，所述框架(41)与所述第五线性位移台(40)相连接且位于相对应的所述检测传送带和所述第二环形LED光源(45)之间；所述第二条形LED光源(44)与所述第二舵机(43)相连接，所述第二条形LED光源(44)与所述第二舵机(43)分别在安装在所述框架(41)四周内侧，所述第二到位检测传感器(42)安装在相对应的所述检测传送带的侧面且位于所述第二相机(47)的前方。 7.根据权利要求6所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述框架(41)为方形框架，所述第二条形LED光源(44)和所述第二舵机(43)的数量均为四个。 8.根据权利要求2-7中任意一项所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述磁瓦外观缺陷检测设备还包括堆叠机构，所述堆叠机构包括正品堆叠机构(9)与废品堆叠机构(7)，所述正品堆叠机构(9)、所述废品堆叠机构(7)分别设置在所述第四检测传送带(6)的两侧且与所述第四检测传送带(6)相垂直排放，所述推送机构还设置在所述第四检测传送带(6)的一侧且与所述正品堆叠机构(9)、所述废品堆叠机构(7)位置正相对。 9.根据权利要求8所述的磁瓦外观缺陷检测设备，其特征在于：所述磁瓦外观缺陷检测设备还包括进料机构(1)，所述进料机构(1)包括进料传送带、导轨条和过渡导板；所述导轨条安装在所述进料传送带的前端，所述过渡导板的一端安装在所述进料传送带的末端，所述过渡导板的另一端安装在所述检测传送机构的入口处，所述堆叠机构还包括疑似废品堆叠机构，所述推送机构还设置在所述第四检测传送带(6)的一侧且与所述疑似废品堆叠机构位置正相对。
所属类别：	实用新型