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原文传递小磁瓦微缺陷可视化检测装置

专利名称：	小磁瓦微缺陷可视化检测装置
摘要：	本实用新型提供一种小磁瓦微缺陷可视化检测装置：包括玻璃圆盘、正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位和电磁铁剔除装置，正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位和电磁铁剔除装置均位于玻璃圆盘正上方，正面检测工位、上面检测工位和反面监测工位位于玻璃圆盘同一回转半径上，电磁铁剔除装置位于玻璃圆盘轴心位置，电磁铁剔除装置包括凹槽圆盘、滑轨和电磁铁，凹槽圆盘位于玻璃圆盘轴心位置；凹槽圆盘顶部以其轴心为中心设置有环形的固定槽，滑轨首端通过固定件与固定槽连接，电磁铁设置在滑轨尾端。本实用新型能准确检测出有缺陷的小磁瓦，合格品经过合格品出料挡板阻挡，顺着角度滑下工作台到出料传送皮带上。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	浙江理工大学
发明人：	潘岩;沈军民;伍俊露;孔卓;张露滨;朱琳;王宏鹏;姚卓滨;汪子杰;李俊峰
专利状态：	有效
申请日期：	2018-11-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201821823728.4
公开号：	CN209525279U
代理机构：	杭州中成专利事务所有限公司
代理人：	金祺
分类号：	G01N21/892(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号
主权项：	1.小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：包括玻璃圆盘(1)、正面检测装置(2)、上面检测装置(3)、反面检测装置(4)和电磁铁剔除装置(7)；所述正面检测装置(2)、上面检测装置(3)、反面检测装置(4)和电磁铁剔除装置(7)均位于玻璃圆盘(1)正上方；所述正面检测装置(2)、上面检测装置(3)和反面检测装置(4)位于玻璃圆盘(1)同一回转半径上；所述电磁铁剔除装置(7)位于玻璃圆盘(1)轴心位置；所述玻璃圆盘(1)上表面设置有周向均匀设置有至少三个与正面检测装置(2)、上面检测装置(3)和反面检测装置(4)配合使用的凸起(1-1)；所述正面检测装置(2)包括相机一(2-1)、条形光源一(2-2)和碗状光源一(2-3)；所述条形光源一(2-2)的数量为两个，两个条形光源一(2-2)对称竖直设置；所述相机一(2-1)的镜头水平设置，两个条形光源一(2-2)分别设置在相机一(2-1)的两侧且均朝向相机一(2-1)的镜头正前方；所述相机一(2-1)的镜头朝向从玻璃圆盘(1)的边缘位置朝向玻璃圆盘(1)的中心位置；所述碗状光源一(2-3)的轴心位置开孔，碗状光源一(2-3)朝向玻璃圆盘(1)；所述碗状光源一(2-3)位于相机一(2-1)的镜头正前方的上方；所述上面检测装置(3)的检测机构包括相机二(3-1)和碗形光源二(3-2)；所述碗形光源二(3-2)的轴心位置开孔；所述相机二(3-1)的镜头对准碗形光源二(3-2)的轴心位置，所述相机二(3-1)和碗形光源二(3-2)均朝向玻璃圆盘(1)；所述反面检测装置(4)包括相机三(4-1)和条形光源三(4-2)；所述条形光源三(4-2)的数量为两个；两个条形光源三(4-2)对称竖直设置，条形光源三(4-2)分别设置在相机三(4-1)的两侧且均朝向相机三(4-1)的镜头正前方；所述相机三(4-1)的镜头从玻璃圆盘(1)的中心位置朝向玻璃圆盘(1)的边缘位置；所述电磁铁剔除装置(7)包括凹槽圆盘(7-2)、滑轨(7-1)和电磁铁(7-4)；所述凹槽圆盘(7-2)位于玻璃圆盘(1)轴心位置；凹槽圆盘(7-2)顶部以其轴心为中心设置有环形的固定槽(7-6)，滑轨(7-1)首端通过固定件(7-5)与固定槽(7-6)连接，所述电磁铁(7-4)设置在滑轨(7-1)尾端。 2.根据权利要求1所述的小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：还包括出料传送皮带(6)；所述出料传送皮带(6)位于玻璃圆盘(1)的边沿；所述玻璃圆盘(1)正上方设置有与出料传送皮带(6)配合使用的挡板(10)。 3.根据权利要求2所述的小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：所述滑轨(7-1)沿着其长度方向等距设置有至少三个滑轨孔(7-7)，固定件(7-5)穿过滑轨孔(7-7)后伸入固定槽(7-6)从而固定滑轨(7-1)和凹槽圆盘(7-2)。 4.根据权利要求3所述的小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：所述正面检测装置(2)还包括光电传感器一(2-5)和与相机一(2-1)配合使用的背景板一(2-4)；所述光电传感器一(2-5)和相机一(2-1)信号连接；所述上面检测装置(3)还包括光电传感器二(3-3)；所述光电传感器二(3-3)与相机二(3-1)信号连接；所述反面检测装置(4)还包括光电传感器三(4-4)和与相机三(4-1)配合使用的背景板二(4-3)；所述光电传感器三(4-4)与相机三(4-1)信号连接。 5.根据权利要求4所述的小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：所述滑轨(7-1)的数量为三个，三个滑轨(7-1)分别与正面检测装置(2)、上面检测装置(3)、反面检测装置(4)配合使用。 6.根据权利要求5所述的小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：所述正面检测装置(2)、上面检测装置(3)和反面检测装置(4)均设置有次品出料传送皮带。 7.根据权利要求6所述的小磁瓦微缺陷可视化检测装置，其特征在于：所述电磁铁(7-4)为设置有弹簧的推拉式电磁铁。
所属类别：	实用新型