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原文传递小磁瓦微缺陷视觉检分装置

专利名称：	小磁瓦微缺陷视觉检分装置
摘要：	本实用新型提供一种小磁瓦微缺陷视觉检分装置：包括圆盘、正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位、电磁铁剔除装置和磁瓦收集装置，正面检测工位、上面检测工位、反面监测工位和磁瓦收集装置周向均匀设置在圆盘正上方，磁瓦剔除机构与磁瓦收集装置配合使用；本实用新型电机转速、相机位置和电磁铁位置都可调，可根据实际的工程需要方便调试；整个型材框架装置底部装有万向轮方便搬运；经过相应工位检测后能准确检测出小磁瓦的品质好坏，并且能准确地在剔除小磁瓦，根据检测出来的小磁瓦合格或缺陷种类控制舵机滑梯的倾斜角度，使小磁瓦进入相应的存储仓。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	浙江理工大学
发明人：	孔卓;沈军民;伍俊露;潘岩;王宏鹏;朱琳;张露滨;姚卓斌;汪子杰;李俊峰
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-10T00:00:00+0800
申请号：	CN201822008652.6
公开号：	CN209764745U
代理机构：	杭州中成专利事务所有限公司
代理人：	金祺
分类号：	G01N21/89(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号
所属类别：	实用新型