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原文传递 光学检测设备
专利名称: 光学检测设备
摘要: 本实用新型提供一种光学检测设备,适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口,其中平台用以承载待测物,且待测物对应于安装开口设置。取像元件与前述二侧光源分别设置于平台的上方与下方,其中取像元件对位于安装开口,且图像获取待侧物。前述二反射元件设置于安装开口。前述二反射元件系分别对应于前述二侧光源,且各反射元件位于取像元件与对应的侧光源之间。各侧光源与对应的反射元件可提供待侧物一侧向光线,藉以取像元件获取待侧物的图像。检测单元接收待侧物的图像,藉以检测待侧物。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 中国台湾;71
申请人: 由田新技股份有限公司
发明人: 张祥毅;古振男
专利状态: 有效
申请日期: 2018-11-09T00:00:00+0800
发布日期: 2019-09-10T00:00:00+0800
申请号: CN201821840092.4
公开号: CN209372707U
代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人: 张晓霞;臧建明
分类号: G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1
主权项: 1.一种光学检测设备,适于检测待测物,其特征在于,所述光学检测设备包括: 平台,具有安装开口,其中所述平台用以承载所述待测物,且所述待测物对应于所述安装开口设置; 取像元件,设置于所述平台的上方,图像获取待侧物; 至少二侧光源,设置于所述平台的下方,且对位于所述安装开口; 至少二反射元件,设置于所述安装开口,其中所述至少二反射元件系分别对应于所述至少二侧光源,且各所述反射元件位于所述取像元件与对应的所述侧光源之间, 其中,各所述侧光源与对应的所述反射元件可提供所述待侧物一侧向光线,藉以所述取像元件获取所述待侧物的图像;以及 检测单元,接收所述待侧物的图像,藉以检测所述待侧物。 2.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,还包括: 至少二载架,连接所述平台背向所述取像元件的一侧,且分别配置用以承载所述至少二侧光源,其中所述至少二载架分别对应于所述至少二反射元件设置,且各所述载架具有朝向对应的所述反射元件的出光开口,各所述侧光源投射出的所述侧向光线经由对应的所述出光开口射向对应的所述反射元件。 3.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,还包括: 至少二限位件,设置于所述安装开口的周围,且彼此相对,所述至少二限位件配置用以卡制所述待测物。 4.根据权利要求3所述的光学检测设备,其特征在于,各所述限位件包括承载部,朝向所述安装开口延伸,且配置用以所述承载所述待测物。 5.根据权利要求3所述的光学检测设备,其特征在于,所述二限位件分别对位于所述至少二侧光源,且所述至少二限位件分别设置于所述至少二反射元件背向所述至少二侧光源的一侧。 6.根据权利要求3所述的光学检测设备,其特征在于,还包括: 至少一定位件,设置于其中一所述限位件的对侧,且配置用以推抵所述待测物抵靠其中一所述限位件。 7.根据权利要求3所述的光学检测设备,其特征在于,还包括: 背光源,与所述取像元件分别设置于所述平台的相对两侧,其中所述背光源对位于所述安装开口,所述背光源配置用以投射背光线至所述待测物,并由所述取像元件取得所述待侧物的另一图像,所述检测单元电性耦接所述取像元件、所述背光源以及各所述侧光源。 8.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,各所述侧向光线为平行光,平行于所述待侧物的表面。 9.根据权利要求1所述的光学检测设备,其特征在于,各所述侧向光线与所述待侧物的表面之间的夹角落在130度至180度之间。
所属类别: 实用新型
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