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原文传递一种大气气态污染物与颗粒物原位反应装置及检测方法

专利名称：	一种大气气态污染物与颗粒物原位反应装置及检测方法
摘要：	本发明涉及一种大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置及检测方法，属于大气多相反应检测技术领域，解决了现有技术中缺乏基于实际环境的气态污染物与颗粒物的原位反应装置及检测方法。本发明的原位反应装置包括依次连接的进样单元、反应单元和采样单元，进样单元用于大气气态污染物与颗粒物进样；反应单元包括结构相同的第一反应室、第二反应室和第三反应室；第一反应室内设有第一载物台，第一载物台上设有第一孔槽，第一孔槽用于固定第一颗粒物装载片；采样单元用于检测气体流速和累计流量。本发明能够基于实际环境的气态污染物和颗粒物进行反应模拟和产物检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国科学院化学研究所
发明人：	王炜罡;王义丹;葛茂发;廉超凡
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910524540.2
公开号：	CN110146523A
代理机构：	北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	丛洪杰;程虹
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	100190 北京市海淀区中关村北1街中国科学院化学研究所
主权项：	1.一种大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，包括依次连接的进样单元、反应单元和采样单元，所述进样单元用于大气气态污染物与颗粒物的进样；所述反应单元包括结构相同的第一反应室、第二反应室和第三反应室；所述第一反应室内设有第一载物台，所述第一载物台上设有第一孔槽，所述第一孔槽用于固定第一颗粒物装载片；所述采样单元用于检测气体流速和累计流量。 2.根据权利要求1所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述第一反应室为暗反应室；所述第二反应室为光源照射反应室；所述第三反应室为空白对照反应室；所述第一反应室、第二反应室和第三反应室的进口和出口处对应设有用于调节气态污染物流量的第一阀门、第二阀门和第三阀门；所述光源包括氙灯、紫外灯管、卤素灯、氘灯、LED灯。 3.根据权利要求2所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述反应单元还包括第四反应室，所述第四反应室为重污染空气反应室；所述第四反应室的进口和出口处均设有用于调节空气流量的第四阀门。 4.根据权利要求3所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述第一颗粒物装载片用于承载矿物和金属氧化物的颗粒物；所述矿物和金属氧化物的颗粒物用于与气态污染物反应并生成新的颗粒物。 5.根据权利要求4所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述第一颗粒物装载片为铜网、硅片或玻璃。 6.根据权利要求5所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述采样单元包括采样泵和气体流速控制器；所述采样泵用于将大气气态污染物和颗粒物抽入反应单元中；所述气体流速控制器用于检测通过采样泵的气体瞬时流速和累计流量。 7.根据权利要求1或6所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述进样单元包括气体管路和颗粒物去除装置，所述颗粒物去除装置包括滤膜，所述滤膜的材质为聚四氟乙烯、石英和玻纤中的一种。 8.根据权利要求7所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，其特征在于，所述气体流速控制器为质量流量计、浮子流量计或限流孔中的一种。 9.一种大气气态污染物与颗粒物的原位检测方法，其特征在于，采用权利要求1至8所述的大气气态污染物与颗粒物的原位反应装置，所述原位检测方法包括：步骤S1.利用采样单元将气体抽入反应单元内，气体经进样单元后去除空气中颗粒物后成为气态污染物；步骤S2.将气态污染物引入暗反应室和光源照射反应室内并与其内的颗粒物反应生成新的颗粒物，空白对照反应室内设有与暗反应室和光源照射反应室相同的颗粒物；步骤S3.对光源照射反应室和暗反应室内新生成的颗粒物分别采用透射电子显微镜TEM和EDX能谱仪进行表征和分析。 10.根据权利要求9所述的大气气态污染物与颗粒物的原位检测方法，其特征在于，在步骤S2中，同时，将大气气态污染物引入重污染空气反应室，重污染空气反应室内的颗粒物与暗反应室和空白对照反应室内的颗粒物相同。
所属类别：	发明专利