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原文传递分光分析装置

专利名称：	分光分析装置
摘要：	即使在设置场所中受到由共振造成的影响的情况下，仍进行测定对象的流体的分析。分光分析装置具有：激光光源部，其朝向在插入至测定对象流体的流路的探针内设置的反射体，照射出波长变化的激光；受光部，其对由所述反射体反射出的所述激光进行受光；以及控制部，其进行使用了所述受光部的受光结果的所述测定对象流体的分析和所述激光光源部的控制，所述控制部对所述激光光源部的激光输出进行控制，以使得遍及一定波长范围对从所述激光光源部照射的所述激光的波长进行扫描所需的时间即扫描时间，小于或等于在所述反射体反射出的所述激光向所述受光部照射的照射时间。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	横河电机株式会社
发明人：	间健太郎;松尾纯一;菊谷信子;杉山裕弥
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910116522.0
公开号：	CN110160988A
代理机构：	北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人：	何立波;张天舒
分类号：	G01N21/39(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种分光分析装置，其具有：激光光源部，其朝向在插入至测定对象流体的流路的探针内设置的反射体，照射出波长变化的激光；受光部，其对由所述反射体反射出的所述激光进行受光；以及控制部，其进行使用了所述受光部的受光结果的所述测定对象流体的分析、和所述激光光源部的控制，所述控制部对所述激光光源部的激光输出进行控制，以使得遍及一定波长范围对从所述激光光源部照射的所述激光的波长进行扫描所需的时间即扫描时间，小于或等于在所述反射体反射出的所述激光向所述受光部照射的照射时间。 2.根据权利要求1所述的分光分析装置，其中，所述扫描时间是遍及将取得测定对象流体的吸收谱的吸收峰值的波长夹入的波长范围而对从所述激光光源部照射的激光的发光波长进行扫描所需的时间。 3.根据权利要求1或2所述的分光分析装置，其中，所述控制部根据所述受光部的受光结果，对所述扫描时间进行设定，以使得至少得到1个完整的扫描信号。 4.根据权利要求1或2所述的分光分析装置，其中，具有加速度传感器，该加速度传感器对所述探针的振动的加速度进行检测，使用所述加速度传感器的检测结果，对由所述反射体反射出的所述激光向所述受光部照射的照射时间进行计算，对所述激光光源部的激光输出进行控制，以使得关于从所述激光光源部照射的所述激光的波长，所述扫描时间小于或等于所述照射时间的一半。 5.根据权利要求1或2所述的分光分析装置，其中，所述控制部使所述激光光源部进行多次扫描，使所述受光部对与所述多次扫描相对应的多个扫描信号进行受光，所述控制部从包含所述多个扫描信号在内的受光部的受光结果，将不适于分析的扫描信号去除。 6.根据权利要求5所述的分光分析装置，其中，所述控制部将去除了不适于分析的扫描信号后的所述多个扫描信号进行累计并求出平均，取得累计平均扫描信号，基于取得的累计平均扫描信号，进行所述测定对象流体的分析。 7.根据权利要求4所述的分光分析装置，其中，所述控制部使用所述加速度传感器的检测结果，对所述探针的振动振幅进行计算，基于计算出的所述振动振幅、所述探针的振动频率和所述受光部的受光面的大小，对所述照射时间进行计算。 8.根据权利要求7所述的分光分析装置，其中，所述探针的振动频率是预先求出的固有振动频率。 9.根据权利要求4所述的分光分析装置，其中，所述控制部基于由所述加速度传感器检测的所述探针的振动的加速度，求出所述探针的振动振幅，在将所述探针的振动振幅表示为a、将所述探针的固有振动频率表示为fn、将所述受光部的受光面的大小表示为d、将所述照射时间表示为Td时，所述控制部基于下面的式1，求出所述照射时间Td，此外，ω表示探针的固有振动的角速度，ω＝2πfn。 10.根据权利要求1或2所述的分光分析装置，其中，所述控制部与对所述受光部的受光结果进行累计得到的累计结果的平均即累计平均信号的检测的有无相应地，对所述激光光源部进行控制，进行所述扫描时间的调整。 11.根据权利要求10所述的分光分析装置，其中，所述控制部直至检测到所述累计平均信号为止，将所述扫描时间逐渐地变短。 12.根据权利要求1或2所述的分光分析装置，其中，所述控制部使所述激光光源部进行多次扫描，使所述受光部对与所述多次扫描相对应的多个扫描信号进行受光，对所述多个扫描信号进行累计并求出平均，取得累计平均扫描信号，对取得的累计平均扫描信号是否大于或等于规定比例而与完整的扫描信号一致进行判定，所述控制部直至判定为所述取得的累计平均扫描信号大于或等于规定比例而与所述完整的扫描信号一致为止，将所述扫描时间逐渐地变短。 13.根据权利要求12所述的分光分析装置，其中，还具有操作部，该操作部接收针对所述扫描时间的指示，在每次对所述操作部输入所述指示时，将所述扫描时间以规定的间隔变短。 14.根据权利要求4所述的分光分析装置，其中，所述控制部在所述测定对象流体的光吸收的程度大于或等于规定的阈值的情况下，将所述扫描时间设定为与所述照射时间的一半接近的值。 15.根据权利要求1或2所述的分光分析装置，其中，所述控制部在所述测定对象流体的光吸收的程度小于规定的阈值的情况下，关于所述扫描时间，与所述测定对象流体的光吸收的程度大于或等于规定的阈值的情况相比，将所述扫描时间变得更小。
所属类别：	发明专利