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原文传递等离子体分光分析方法

专利名称：	等离子体分光分析方法
摘要：	本发明提供等离子体分光分析方法。向检体添加与分析对象金属成分不同的对照用金属成分，以形成已知浓度，并向导入了该检体的测定容器中的一对电极施加电流，将上述检体中的分析对象金属成分及对照用金属成分浓缩到一个电极的附近，然后向上述一对的电极施加电流而产生等离子体，并检测所产生的上述分析对象金属成分及上述对照用金属成分的发光，并由通过该检测而得到的发光谱，利用与上述对照用金属成分对应的波长即对照波长中的净发光量即对照发光量来校正与上述分析对象金属成分对应的波长即分析波长中的净发光量即分析发光量，将该校正的值与在预先已知的浓度的分析对象金属成分的测定中得到的校准线比较，由此对该分析对象金属成分进行定量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	爱科来株式会社
发明人：	本间紘次郎;桐山健太郎;山田泰史
专利状态：	有效
申请号：	CN201810711726.4
公开号：	CN109211878A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	黄纶伟;金玲
分类号：	G01N21/67(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本京都府
主权项：	1.一种等离子体分光分析方法，其特征在于，包括：准备步骤，以形成已知浓度的方式向检体添加与分析对象金属成分不同的对照用金属成分；浓缩步骤，将上述检体导入到测定容器中，并向设置在该测定容器中的一对电极施加电流，从而在至少一个电极的附近浓缩上述检体中的上述分析对象金属成分及上述对照用金属成分；检测步骤，在上述浓缩步骤之后，通过向上述一对电极施加电流而产生等离子体，对通过该等离子体而产生的上述分析对象金属成分及上述对照用金属成分的发光进行检测；校正步骤，算出利用对照发光量来校正分析发光量而得到的校正值，该对照发光量是在上述检测步骤中检测的对照波长中的净发光量，该对照波长是与上述对照用金属成分对应的波长，该分析发光量是在上述检测步骤中检测的分析波长中的净发光量，该分析波长是与上述分析对象金属成分对应的波长；及定量步骤，将上述校正值与在预先已知的浓度的分析对象金属成分的测定中得到的校准线进行比较而对上述检体中的该分析对象金属成分进行定量。
所属类别：	发明专利